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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-12-01 09:55 ストライプコアGaN基板上InGaN量子井戸における顕微PA・PL同時ラインスキャン測定 ○神野翔綺・山口敦史・森 恵人（金沢工大）・草薙 進・蟹谷裕也・冨谷茂隆・工藤喜弘（ソニーセミコンダクタソリューションズ）  ED2023-25 CPM2023-67 LQE2023-65 |
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| 抄録 | （和） | 我々は、InGaN量子井戸発光層の電子構造とキャリアダイナミクスを完全に理解するためには、正確な内部量子効率(IQE)が必要であると考え、正確なIQEを決定するための光音響(PA)測定とフォトルミネッセンス(PL)測定の同時計測を提案している。今回は、欠陥密度が位置によって大きく変化するストライプコアGaN基板上のInGaN量子井戸試料を用いて、PA・PL同時計測のラインスキャン測定を行った。その結果、PA強度とPL強度は相補的であるという妥当な結果が得られた。IQEを正しく見積もるためには、この相補性を定量的に解析する必要があるが、現状では励起光の基板吸収などの影響があり、そうした影響を取り除く必要がある。 |
| （英） | Accurate measurement of internal quantum efficiency (IQE) is necessary for a comprehensive understanding of the electronic structures and carrier dynamics in InGaN quantum-well emitting layers, and we have proposed simultaneous photoacoustic (PA) and photoluminescence (PL) measurements for such accurate IQE estimation. In this study, we have performed line-scan measurements of the simultaneous PA and PL measurements for InGaN quantum wells on a stripe-core GaN substrate, where the defect density spatially varies significantly. The results show that the PA and PL signal intensities show complemental relationship, which is quite reasonable. However, the data are affected by substrate absorption of the excitation light, and such effects should be removed to estimate accurate IQE values from the measurement data | |
| キーワード | （和） | InGaN量子井戸 / PA測定 / PL測定 / 内部量子効率 / / / / |
| （英） | InGaN Quantum Well / Simultaneous photoacoustic / Photoluminescence measurements / Internal quantum efficiency / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 290, LQE2023-65, pp. 52-55, 2023年11月. | |
| 資料番号 | LQE2023-65 | |
| 発行日 | 2023-11-23 (ED, CPM, LQE) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ED2023-25 CPM2023-67 LQE2023-65 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | LQE ED CPM |
| 開催期間 | 2023-11-30 - 2023-12-01 |
| 開催地（和） | アクトシティ浜松 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 窒化物半導体光・電子デバイス・材料，関連技術，及び一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | LQE |
| 会議コード | 2023-11-LQE-ED-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ストライプコアGaN基板上InGaN量子井戸における顕微PA・PL同時ラインスキャン測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Simultaneous microscopic PA/PL line-scan measurements in InGaN-quantum wells on a stripe-core GaN Substrate |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | InGaN量子井戸 / InGaN Quantum Well |
| キーワード(2)（和/英） | PA測定 / Simultaneous photoacoustic |
| キーワード(3)（和/英） | PL測定 / Photoluminescence measurements |
| キーワード(4)（和/英） | 内部量子効率 / Internal quantum efficiency |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 神野 翔綺 / Syoki Jinno / ジンノ ショウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 金沢工業大学 (略称： 金沢工大) Kanazawa Institute of Technology (略称： Kanazawa Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山口 敦史 / Atsushi A. Yamaguchi / ヤマグチ アツシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 金沢工業大学 (略称： 金沢工大) Kanazawa Institute of Technology (略称： Kanazawa Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森 恵人 / Keito Mori-Tamamura / モリ ケイト |
| 第3著者 所属（和/英） | 金沢工業大学 (略称： 金沢工大) Kanazawa Institute of Technology (略称： Kanazawa Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 草薙 進 / Susumu Kusanagi / クサナギ ススム |
| 第4著者 所属（和/英） | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称： ソニーセミコンダクタソリューションズ) Sony Semiconductor Solutions Corporation (略称： Sony Semiconductor Solutions Corp.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 蟹谷 裕也 / Yuya Kanitani / カニタニ ユウヤ |
| 第5著者 所属（和/英） | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称： ソニーセミコンダクタソリューションズ) Sony Semiconductor Solutions Corporation (略称： Sony Semiconductor Solutions Corp.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 冨谷 茂隆 / Shigetaka Tomiya / トミヤ シゲタカ |
| 第6著者 所属（和/英） | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称： ソニーセミコンダクタソリューションズ) Sony Semiconductor Solutions Corporation (略称： Sony Semiconductor Solutions Corp.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 工藤 喜弘 / Yoshihiro Kudo / クドウ ヨシヒロ |
| 第7著者 所属（和/英） | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 (略称： ソニーセミコンダクタソリューションズ) Sony Semiconductor Solutions Corporation (略称： Sony Semiconductor Solutions Corp.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-12-01 09:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | LQE |
| 資料番号 | ED2023-25, CPM2023-67, LQE2023-65 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.288(ED), no.289(CPM), no.290(LQE) |
| ページ範囲 | pp.52-55 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2023-11-23 (ED, CPM, LQE) |
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