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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-02-28 10:55 DICEを基にしたエッジトリガ型耐ソフトエラーD-FFを用いたシステム設計 ○難波一輝（千葉大）  DC2023-95 |
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| 抄録 | （和） | 近年の VLSI の微細化は，放射線起因のソフトエラーの影響を深刻化している． そしてそのため，多くの耐ソフトエラーフリップフロップの設計が研究されている． その1種である，DICE (Dual Interlocked Storage Cell) を基にした非同期 RS ラッチを 用いたエッジトリガー型耐ソフトエラー Dフリップフロップについて， 本稿では，その有用性を検証する実験を行っている． 具体的に，45 nm テクノロジーを用いてライブラリを作り，Design compiler を用いて ISCAS 89 ベンチマーク回路を論理合成している．そして， 例えば s838.1 について，クロック周期を 0.43 ns に設定し論理合成を行ったとき， 面積が 4.2% 削減できるなど，有用性を裏付ける結果を得ている． |
| （英） | The recent miniaturization of VLSI has made the effects of radiation-induced soft errors more serious. From this, many soft-error tolerant flip-flops have been presented. The authors presented an edge-triggered soft-error tolerant flip-flop using an asynchronous RS latch based on a DICE (Dual Interlocked Storage Cell) as one of them in past work. This paper has given experimental results to verify its usefulness. The experimentation built a library using 45 nm technology and then synthesized ISCAS 89 benchmark circuit with the Design compiler. Then, the results gave evidence about the usefulness of the edge-triggered FF. For example, it reduced the area by 4.2% for s838.1 and the clock period of 0.43 ns. |
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| キーワード | （和） | ソフトエラー / DICE (Dual Interlocked Storage Cell) / エッジトリガー型 Dフリップフロップ / / / / / |
| （英） | soft error / DICE (Dual Interlocked Storage Cell) / edge triggered D-flip flop / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 389, DC2023-95, pp. 7-10, 2024年2月. | |
| 資料番号 | DC2023-95 | |
| 発行日 | 2024-02-21 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2023-95 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2024-02-28 - 2024-02-28 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2024-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | DICEを基にしたエッジトリガ型耐ソフトエラーD-FFを用いたシステム設計 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | System design using DICE-based edge-triggered soft-error-tolerant D-FF |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / soft error |
| キーワード(2)（和/英） | DICE (Dual Interlocked Storage Cell) / DICE (Dual Interlocked Storage Cell) |
| キーワード(3)（和/英） | エッジトリガー型 Dフリップフロップ / edge triggered D-flip flop |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 難波 一輝 / Kazuteru Namba / ナンバ カズテル |
| 第1著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-02-28 10:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2023-95 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.389 |
| ページ範囲 | pp.7-10 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2024-02-21 (DC) |
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