| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-02-28 15:05 論理回路の分岐再収斂構造解析による高消費電力エリア特定に関する研究 ○山下友哉・宮瀬紘平・温 暁青（九工大）  DC2023-101 |
|
| 抄録 | （和） | 昨今のLSI製造技術の進歩は著しい．LSIが性能優先で開発される際は，LSIの消費電力削減の優先順位は低い場合がある．しかし，携帯機器の普及に伴い，現在LSIの低消費電力化は必要不可欠である．LSIの低消費電力化を実現するためには消費電力が高い要因を突き止め高消費電力エリアを特定する必要がある．さらに，テスト時は設計時に予想できないほど消費電力が高くなり，熱などの問題に加え，実速度テスト時の瞬間的な電力不足は過度な遅延増加の原因となり，故障のない回路を故障があると判定してしまう誤テストの原因となる．近年，回路内の論理ゲートの種類により高消費電力エリア特定が進められてきたが，本研究では消費電力の要因となる信号値遷移が分岐再収斂の収斂先のゲートに起きやすいと考え，そのようなゲートの特定し消費電力の関係を調査する．消費電力解析に用いられている従来の信号値遷移確率を用いた手法は，確率を計算する回路内に分岐再収斂が含まれると正確でなくなるからである． |
| （英） | In recent years, there has been remarkable progress in the manufacturing technology of LSIs (Large Scale Integration). During the development of LSIs, performance has historically been prioritized over power consumption reduction. However, with the widespread use of portable devices, the low power consumption of LSIs has become essential. To achieve low power consumption in LSIs, it is necessary to identify the factors contributing to high power consumption and locate high power consumption areas. Especially during testing, power consumption becomes high. Excessive power consumption caused excessive IR-drop resulting in test malfunction. While recent studies have made progress in identifying high power consumption areas based on the types of logic gates within the circuit, these researches focus on signal value transitions as a factor affecting power consumption. It is hypothesized that signal value transitions occurring at gates involved in branch and reconvergence, and the identification of such gates is crucial for investigating their relationship with power consumption. The signal transition probabilities commonly used in power consumption analysis become inaccurate when branch and reconvergences are included in the circuit, leading to the need for a more detailed investigation for power analysis. | |
| キーワード | （和） | 分岐再収斂 / テスト時の消費電力 / IR-drop / 誤テスト / 信号値遷移確率 / / / |
| （英） | Branch and reconvergence / test power / IR-drop / test malfunction / probability of switching activity / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 389, DC2023-101, pp. 41-46, 2024年2月. | |
| 資料番号 | DC2023-101 | |
| 発行日 | 2024-02-21 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2023-101 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2024-02-28 - 2024-02-28 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2024-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 論理回路の分岐再収斂構造解析による高消費電力エリア特定に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Locating High Power Consuming Area by Branch and Reconvergence Topology Analysis for Logic Circuit |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 分岐再収斂 / Branch and reconvergence |
| キーワード(2)（和/英） | テスト時の消費電力 / test power |
| キーワード(3)（和/英） | IR-drop / IR-drop |
| キーワード(4)（和/英） | 誤テスト / test malfunction |
| キーワード(5)（和/英） | 信号値遷移確率 / probability of switching activity |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山下 友哉 / Tomoya Yamashita / ヤマシタ トモヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-02-28 15:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2023-101 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.389 |
| ページ範囲 | pp.41-46 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-02-21 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]