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| 講演名 | 2024-02-29 15:55 ［記念講演］Modeling of Tamper Resistance to Electromagnetic Side-channel Attacks on Voltage-scaled Circuits ○Kazuki Minamiguchi・Yoshihiro Midoh・Noriyuki Miura・Jun Shiomi（Osaka Univ.）  VLD2023-117 HWS2023-77 ICD2023-106 |
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| 抄録 | （和） | The threat of information leakage by Side-Channel Attacks (SCAs) using ElectroMagnetic (EM) leakage is becoming more and more prominent for crypto circuits. This paper models tamper resistance to EM SCAs on voltage-scaled crypto circuits. It is well know that if the supply voltage is donwscaled, attackers need to acquire more EM traces to extract secret key information in crypto circuits. Therefore, crypto circuits can process more data safely. However, their supply voltage dependence is not fully studied. This paper thus firstly models voltage dependence of the strength in the EM emission from crypto circuits. Then, this paper models the tamper resistance which analytically expresses the relationship between the necessary number of EM traces and the supply voltage. This helps consider to optimize the trade-off relationship between encryption performance and tamper resistance to the information leakage. The proposed models are validated by measurement results using an Advanced Encryption Standard (AES) circuit with a 180-nm process technology. |
| （英） | The threat of information leakage by Side-Channel Attacks (SCAs) using ElectroMagnetic (EM) leakage is becoming more and more prominent for crypto circuits. This paper models tamper resistance to EM SCAs on voltage-scaled crypto circuits. It is well know that if the supply voltage is donwscaled, attackers need to acquire more EM traces to extract secret key information in crypto circuits. Therefore, crypto circuits can process more data safely. However, their supply voltage dependence is not fully studied. This paper thus firstly models voltage dependence of the strength in the EM emission from crypto circuits. Then, this paper models the tamper resistance which analytically expresses the relationship between the necessary number of EM traces and the supply voltage. This helps consider to optimize the trade-off relationship between encryption performance and tamper resistance to the information leakage. The proposed models are validated by measurement results using an Advanced Encryption Standard (AES) circuit with a 180-nm process technology. | |
| キーワード | （和） | 電磁漏えい / サイドチャネル攻撃 / 電圧スケーリング / / / / / |
| （英） | Electromagnetic leakage / side-channel attack / voltage-scaled circuit design / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 390, VLD2023-117, pp. 99-99, 2024年2月. | |
| 資料番号 | VLD2023-117 | |
| 発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2023-117 HWS2023-77 ICD2023-106 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD HWS ICD |
| 開催期間 | 2024-02-28 - 2024-03-02 |
| 開催地（和） | 沖縄県男女共同参画センター【てぃるる】会議室１・２・３ |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2024-02-VLD-HWS-ICD |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Modeling of Tamper Resistance to Electromagnetic Side-channel Attacks on Voltage-scaled Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁漏えい / Electromagnetic leakage |
| キーワード(2)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / side-channel attack |
| キーワード(3)（和/英） | 電圧スケーリング / voltage-scaled circuit design |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 南口 和生 / Kazuki Minamiguchi / ミナミグチ カズキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 御堂 義博 / Yoshihiro Midoh / ミドウ ヨシヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三浦 典之 / Noriyuki Miura / ミウラ ノリユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 塩見 準 / Jun Shiomi / シオミ ジュン |
| 第4著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-02-29 15:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2023-117, HWS2023-77, ICD2023-106 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.390(VLD), no.391(HWS), no.392(ICD) |
| ページ範囲 | p.99 |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) |
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