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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-02-29 15:30 ［記念講演］絶縁膜ReRAMを用いる高信頼かつ製造時複製可能な有機薄膜トランジスタPUFの実現 ○大島國弘（京大）・栗原一徳（産総研）・佐藤高史（京大）  VLD2023-116 HWS2023-76 ICD2023-105 |
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| 抄録 | （和） | 有機薄膜トランジスタ（ OTFT ）はセンサ回路等における応用が期待されているが，こうしたシステムではセキュリティが重要となる．そこで本研究では高信頼な認証機能を提供する，OTFT を用いた物理複製困難関数回路（ PUF ）を提案する． OTFT は特性劣化が速いため，素子の特性ばらつきを利用する PUF の安定動作は困難となる．このため提案 PUF では， OTFT と同一のプロセスを用いて追加コストなく製造できる新たな抵抗変化型メモリ（ ReRAM ）に値を保持することにより，長期間の安定動作を目指す．また，提案 PUF では製造時に複数 PUF 間で出力応答を共有するクローナブル PUF （ CPUF ）が実現できる．測定と数値実験により， OTFT 及びReRAM 動作の安定性，およびばらつき源となる SRAM 回路の出力信号のランダム性の評価により， OTFT による CPUF の動作を確認した． |
| （英） | We enhance the robustness of organic thin-film transistor (OTFT)-based physically unclonable functions (PUFs) against unstable output responses that originate from OTFT characteristic degradation. The proposed PUF incorporates a new resistive random access memory (ReRAM) constructed from metal-oxide thin films, enabling both ReRAM and OTFT components to be simultaneously fabricated using common materials and processes. The device combinations facilitate the efficient design of clonable PUF (CPUF) circuits with equivalent response outputs. Evaluations using measurements and simulations validate the successful operation of the CPUF. | |
| キーワード | （和） | 有機薄膜トランジスタ（OTFT） / 物理複製困難関数（PUF） / / / / / / |
| （英） | Organic thin-film transistor (OTFT) / Physically unclonable function (PUF) / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 390, VLD2023-116, pp. 98-98, 2024年2月. | |
| 資料番号 | VLD2023-116 | |
| 発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2023-116 HWS2023-76 ICD2023-105 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD HWS ICD |
| 開催期間 | 2024-02-28 - 2024-03-02 |
| 開催地（和） | 沖縄県男女共同参画センター【てぃるる】会議室１・２・３ |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2024-02-VLD-HWS-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 絶縁膜ReRAMを用いる高信頼かつ製造時複製可能な有機薄膜トランジスタPUFの実現 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design of Aging-Robust Clonable PUF Using an Insulator-Based ReRAM for Organic Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 有機薄膜トランジスタ（OTFT） / Organic thin-film transistor (OTFT) |
| キーワード(2)（和/英） | 物理複製困難関数（PUF） / Physically unclonable function (PUF) |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大島 國弘 / Kunihiro Oshima / オオシマ クニヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 栗原 一徳 / Kazunori Kuribara / クリバラ カズノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 高史 / Takashi Sato / サトウ タカシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-02-29 15:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2023-116, HWS2023-76, ICD2023-105 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.390(VLD), no.391(HWS), no.392(ICD) |
| ページ範囲 | p.98 |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) |
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