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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-03-01 11:15 オンチップLDOによる電磁波照射ノイズ低減効果の検討 ○長谷川陸宇・門田和樹・弘原海拓也・三木拓司・永田 真（神戸大）  VLD2023-124 HWS2023-84 ICD2023-113 |
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| 抄録 | （和） | ICチップには回路の動作中に不正な入力や擾乱を注入することで回路の誤動作（故障）を引き起こす故障注入攻撃の脅威が存在する。また攻撃対象が暗号回路である場合、故障を含む出力（暗号文）を用いた故障解析攻撃により暗号回路の秘匿情報である秘密鍵を解析される可能性もある。よって、故障注入攻撃に対する対策を行うことは重要であると考えられる。故障注入の手法にはレーザー照射、電圧/クロックグリッジ、電磁波照射など様々存在する。本稿では電磁波照射による故障注入攻撃である電磁的故障注入攻撃（Electromagnetic fault injection attack : EMFI）を対象に攻撃時に回路内部の電源配線で生じるノイズの解析を行った。ノイズ解析では電圧モニタ回路であるオンチップモニタ回路を用いてデジタル回路の電源配線における電磁波照射時の電圧変動を測定した。この際、デジタル回路への電源供給方法を外部給電とICチップに実装したLDOの2種類とし、LDOが回路内部でのノイズ低減効果を持つ可能性を検討した。 |
| （英） | IC chips are subject to the threat of fault injection attacks, which cause circuit malfunctions (faults) by injecting illegal inputs or disturbances into the digital circuit while it is operating. If the attack target is a crypto circuit, the secret key, which is the secret information of the crypto circuit, can be analyzed by a fault analysis attack using the output (ciphertext) containing the fault. Therefore, it is considered important to take countermeasures against fault injection attacks. There are various methods of fault injection, such as laser irradiation, voltage/clock glitches, and electromagnetic irradiation. This paper analyzes the noise generated in the power supply wiring in a digital circuit during an electromagnetic fault injection (EMFI) attack, which is a fault injection attack by electromagnetic irradiation. For the noise analysis, we measured voltage fluctuations in the power supply wiring of digital circuits during EMFI using an on-chip monitor (OCM) circuit, which is a voltage monitoring circuit. In this case, two types of power supply methods to digital circuits were used: external power supply and LDO mounted on IC chips, and the possibility of LDO having a noise reduction effect. | |
| キーワード | （和） | デジタル回路 / 電磁的故障注入攻撃 / オンチップモニタ回路 / OCM / LDO / / / |
| （英） | Digital circuit / Electromagnetic fault injection / EMFI / On-chip monitor circuit / OCM / LDO / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 391, HWS2023-84, pp. 131-134, 2024年2月. | |
| 資料番号 | HWS2023-84 | |
| 発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2023-124 HWS2023-84 ICD2023-113 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD HWS ICD |
| 開催期間 | 2024-02-28 - 2024-03-02 |
| 開催地（和） | 沖縄県男女共同参画センター【てぃるる】会議室１・２・３ |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2024-02-VLD-HWS-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | オンチップLDOによる電磁波照射ノイズ低減効果の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Investigation of electromagnetic irradiation noise reduction by on-chip LDOs |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | デジタル回路 / Digital circuit |
| キーワード(2)（和/英） | 電磁的故障注入攻撃 / Electromagnetic fault injection |
| キーワード(3)（和/英） | オンチップモニタ回路 / EMFI |
| キーワード(4)（和/英） | OCM / On-chip monitor circuit |
| キーワード(5)（和/英） | LDO / OCM |
| キーワード(6)（和/英） | / LDO |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 陸宇 / Rikuu Hasegawa / ハセガワ リクウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 門田 和樹 / Kazuki Monta / モンタ カズキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 弘原海 拓也 / Takuya Wadatsumi / ワダツミ タクヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三木 拓司 / Takuji Miki / ミキ タクジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第5著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-03-01 11:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | VLD2023-124, HWS2023-84, ICD2023-113 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.390(VLD), no.391(HWS), no.392(ICD) |
| ページ範囲 | pp.131-134 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) |
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