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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-06-28 09:45 電子機器の設計データにもとづく遠方界放射電界強度シミュレーションの取り組み ○田中顕裕・野末修平・本木浩之・中西秀行（RITAエレクトロニクス）・中橋幸一・飯坂直也・小宮純一（東京ドロウイング）  EMCJ2024-9 |
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| 抄録 | （和） | 本研究は，電子機器の設計データに基づく遠方界放射電界強度（放射ノイズ）のシミュレーションの実現可能性を調査したものである．電子機器の設計，製作，および放射ノイズの実測を行い，基板の設計状態や筐体の有無が放射ノイズに影響することを確認した．２種類の基板と筐体有無の４条件で有限要素法を用いた電磁界解析を実施し，設計データの簡略化が必要であることが判明した．簡略化後，200～260万メッシュになり，120～192MHz間の４周波数の計算に４～７時間を要した．シミュレーションと実測の差異原因についても検討を行った． |
| （英） | This study investigates the feasibility of simulating far-field radiated electric field intensity (radiated noise) based on the design data of electronic devices. Design, fabrication, and measurement confirmed that the design of the board and the presence of an enclosure affect radiated noise. Electromagnetic field analysis using the finite element method was performed on four conditions, requiring data simplification to approximately 2 to 2.6 million meshes. Calculations for four frequencies between 120 to 192 MHz took 4 to 7 hours. The causes of discrepancies between the simulation and actual measurements were also examined. | |
| キーワード | （和） | 電子機器 / 設計データ / 遠方界放射電界強度 / 有限要素法 / 電磁界解析 / / / |
| （英） | Electronic equipment / Design data / Far-field radiated emission intensity / Finite element method / Electromagnetic field analysis / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 92, EMCJ2024-9, pp. 11-16, 2024年6月. | |
| 資料番号 | EMCJ2024-9 | |
| 発行日 | 2024-06-21 (EMCJ) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2024-9 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ IEE-EMC IEE-SPC |
| 開催期間 | 2024-06-28 - 2024-06-28 |
| 開催地（和） | ホテルサンシティー函館（函館市） |
| 開催地（英） | Hotel Suncity |
| テーマ（和） | EMC一般 |
| テーマ（英） | EMC |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2024-06-EMCJ-EMC-SPC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電子機器の設計データにもとづく遠方界放射電界強度シミュレーションの取り組み |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Far-field radiation field strength simulations based on electronic equipment design data |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電子機器 / Electronic equipment |
| キーワード(2)（和/英） | 設計データ / Design data |
| キーワード(3)（和/英） | 遠方界放射電界強度 / Far-field radiated emission intensity |
| キーワード(4)（和/英） | 有限要素法 / Finite element method |
| キーワード(5)（和/英） | 電磁界解析 / Electromagnetic field analysis |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中 顕裕 / Akihiro Tanaka / タナカ アキヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | RITAエレクトロニクス株式会社 (略称： RITAエレクトロニクス) RITA Electronics, Ltd. (略称： RITA Electronics) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野末 修平 / Shuhei Nozue / ノズエ シュウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | RITAエレクトロニクス株式会社 (略称： RITAエレクトロニクス) RITA Electronics, Ltd. (略称： RITA Electronics) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 本木 浩之 / Hiroyuki Motoki / モトキ ヒロユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | RITAエレクトロニクス株式会社 (略称： RITAエレクトロニクス) RITA Electronics, Ltd. (略称： RITA Electronics) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中西 秀行 / Hideyuki Nakanishi / ナカニシ ヒデユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | RITAエレクトロニクス株式会社 (略称： RITAエレクトロニクス) RITA Electronics, Ltd. (略称： RITA Electronics) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中橋 幸一 / Koichi Nakahashi / ナカハシ コウイチ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東京ドロウイング株式会社 (略称： 東京ドロウイング) Tokyo Drawing, Ltd. (略称： Tokyo Drawing) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 飯坂 直也 / Naoya Iisaka / イイサカ ナオヤ |
| 第6著者 所属（和/英） | 東京ドロウイング株式会社 (略称： 東京ドロウイング) Tokyo Drawing, Ltd. (略称： Tokyo Drawing) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小宮 純一 / Junichi Komiya / コミヤ ジュンイチ |
| 第7著者 所属（和/英） | 東京ドロウイング株式会社 (略称： 東京ドロウイング) Tokyo Drawing, Ltd. (略称： Tokyo Drawing) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-06-28 09:45:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2024-9 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.92 |
| ページ範囲 | pp.11-16 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-06-21 (EMCJ) |
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