ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2024-07-11 11:05
電極位置のばらつきによる経頭蓋電気刺激の数値的評価
井上大河小寺紗千子平田晃正名工大EMT2024-23 MW2024-47 OPE2024-26 EST2024-24 MWPTHz2024-30
抄録 (和) 近年,医療分野において脳組織を非侵襲的に刺激することに関心が高まっている.その手法の一つとして経頭蓋電気刺激(tES)が挙げられる.tESには直流電流を用いた経頭蓋直流電気(tDCS),交流電流を用いた経頭蓋交流電気刺激(tACS)に大きく分けることができるが,これらの手法の問題点として,標的領域以外にも電界が誘導される可能性がある.一方,脳深部においても局所性の高い電界を生じさせる手法として時間干渉刺激(TIS)が提案されている.この手法は,頭部に貼付した2組の電極を介して,頭部に印可される1 kHz以上の僅かに周波数の異なる交流電流を重ねることにより脳の特定の部位に干渉電界の包絡波を誘導する.tESやTISでは頭部に貼付する電極は国際10-10法に基づき貼付されるが,臨床現場において電極貼付位置が正確な貼付位置から変位する可能性がある.本稿では,tACSとTISにおける電極貼付位置の変位を模擬し,電界強度分布及び包絡波振幅分布の変化について評価をした.その結果,TISにより生ずる脳内電界は,tACSと比べて電極貼付位置のずれの影響を受けやすく,電極貼付位置の調整がより重要であることが示唆された. 
(英) In recent years, non-invasive stimulation of deep brain tissue has attracted much attention in the treatment of brain dysfunctions. One of the methods is transcranial electrical stimulation (tES). tES can be classified into transcranial direct current stimulation (tDCS), which uses direct current, and transcranial alternating current stimulation (tACS), which uses alternating current. However , the problem with these methods is that they may unnecessarily induced the electric fields in areas other than the target area. To overcome this difficulty, transcranial interference stimulation (TIS) has been proposed as a new method with higher locality even in deeper regions. This method induces an interference electric field envelope in specific parts of the brain by superimposing slightly different frequencies of alternating current above 1 kHz through two sets of electrodes attached to the head. In tES and TIS, electrodes are attached to the scalp whose positions are typically based on the international 10-10 system. However the positions of the electrodes are likely deviated from the reference position in the clinical setting. In this study, we evaluate the changes of the distributions of the electric field strength and the envelope amplitude in tACS and TIS, respectively, when a slight displacement of the electrode position is considered. The results suggest that TIS is more susceptible to the influence of the electrode attachment position than tACS, and that the electrode attachment position is more critical in TIS than in tACS.
キーワード (和) 時間干渉刺激法 / 経頭蓋交流電気刺激 / Scalar Potential Finite Difference(SPFD法) / / / / /  
(英) Temporal Interference Stimulation / transcranial Alternating Current Stimulation / SPFD / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 124, no. 98, EST2024-24, pp. 75-79, 2024年7月.
資料番号 EST2024-24 
発行日 2024-07-04 (EMT, MW, OPE, EST, MWPTHz) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMT2024-23 MW2024-47 OPE2024-26 EST2024-24 MWPTHz2024-30

研究会情報
研究会 MW EMT OPE MWPTHz EST IEE-EMT  
開催期間 2024-07-11 - 2024-07-12 
開催地(和) 小樽市民会館 
開催地(英) otaru-shimin-kaikan 
テーマ(和) 光・電波ワークショップ 
テーマ(英) Workshop on Optical and Microwave technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EST 
会議コード 2024-07-MW-EMT-OPE-MWPTHz-EST-EMT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 電極位置のばらつきによる経頭蓋電気刺激の数値的評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Numerical Evaluation of Transcranial Electrical Stimulation Due to Variation in Electrode Position 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 時間干渉刺激法 / Temporal Interference Stimulation  
キーワード(2)(和/英) 経頭蓋交流電気刺激 / transcranial Alternating Current Stimulation  
キーワード(3)(和/英) Scalar Potential Finite Difference(SPFD法) / SPFD  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 大河 / Taiga Inoue / イノウエ タイガ
第1著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NITech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小寺 紗千子 / Sachiko Kodera / コデラ サチコ
第2著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NITech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 平田 晃正 / Akimasa Hirata / ヒラタア キマサ
第3著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NITech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2024-07-11 11:05:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EST 
資料番号 EMT2024-23, MW2024-47, OPE2024-26, EST2024-24, MWPTHz2024-30 
巻番号(vol) vol.124 
号番号(no) no.95(EMT), no.96(MW), no.97(OPE), no.98(EST), no.99(MWPTHz) 
ページ範囲 pp.75-79 
ページ数
発行日 2024-07-04 (EMT, MW, OPE, EST, MWPTHz) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会