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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-07-18 14:00 リーク電流制御により超低電圧動作を実現したリーク電流型Strong PUFのチップ実測評価 ○畑 俊吉・宇佐美公良（芝浦工大）  CAS2024-8 VLD2024-8 SIP2024-25 MSS2024-8 |
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| 抄録 | （和） | LSI の個体識別技術である PUF(Physically Unclonable Function) を、環境発電を電源として使用するデバイスに搭載する際には、低電圧動作が課題となる。LRPUF(Leak Racing PUF) はリーク電流型 Strong PUF として提案されたが、超低電圧における実シリコンでの動作は報告されていない。本稿では、リーク制御電圧 (VLC) により、LRPUFの超低電圧動作を実現する手法を提案し、180nm CMOS バルクプロセスでの試作を行った。試作チップによる PUFの性能と消費エネルギーの実測結果について報告する。 |
| （英） | Low voltage operation becomes issues to be addressed when PUF (Physically Unclonable Function) is mounted on devices that use energy harvesting as a power source. LRPUF (Leak Racing PUF) was proposed as a leakage based strong PUF. However approaches to make it operate at ultra-low voltage have not been reported with a proof of working in real silicon. In this paper, we propose a technique to make LRPUF operate at ultra-low voltage by the voltage for leakage control (VLC). We implemented a test chip and fabricated in a 180nm CMOS bulk process. We show the measured results of the quality of PUF and energy with test chip. | |
| キーワード | （和） | PUF / セキュリティ / リーク電流 / 製造ばらつき / 超低電圧 / / / |
| （英） | PUF / Security / Leakage Current / Manufacturing Variability / Ultra-Low Voltage / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 111, VLD2024-8, pp. 41-46, 2024年7月. | |
| 資料番号 | VLD2024-8 | |
| 発行日 | 2024-07-11 (CAS, VLD, SIP, MSS) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2024-8 VLD2024-8 SIP2024-25 MSS2024-8 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD CAS SIP MSS |
| 開催期間 | 2024-07-18 - 2024-07-19 |
| 開催地（和） | 弘前大学 創立50周年記念会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2024-07-VLD-CAS-SIP-MSS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | リーク電流制御により超低電圧動作を実現したリーク電流型Strong PUFのチップ実測評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measurement of Leakage based Strong PUF Operating at Ultra Low Voltage Using a Leakage Control Approach |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | PUF / PUF |
| キーワード(2)（和/英） | セキュリティ / Security |
| キーワード(3)（和/英） | リーク電流 / Leakage Current |
| キーワード(4)（和/英） | 製造ばらつき / Manufacturing Variability |
| キーワード(5)（和/英） | 超低電圧 / Ultra-Low Voltage |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 畑 俊吉 / Shunkichi Hata / ハタ シュンキチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： SIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami / ウサミ キミヨシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： SIT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-07-18 14:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | CAS2024-8, VLD2024-8, SIP2024-25, MSS2024-8 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.110(CAS), no.111(VLD), no.112(SIP), no.113(MSS) |
| ページ範囲 | pp.41-46 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-07-11 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
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