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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-07-18 15:10 製造ばらつきを考慮した半導体製品のイミュニティ性能等価性に関する検討 ○須郷秀武・岡 典正・松崎 剛（デンソー）  EMCJ2024-28 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では差動増幅回路を有する半導体製品に対し，製造ばらつきがイミュニティ性能に与える影響を分析した．事前評価した複数サンプルのDPI(Direct Power Injection)評価の結果を目的変数とし，イミュニティ性能に与える種々の設計パラメータを説明変数とした多変量解析によって，発振周波数ならびに振幅増幅率に関連する設計パラメータの寄与度が大きいことを明らかにした。特に発振周波数のばらつきによるDPI評価のサンプル間の最大差分は8.7 dBであった．差分発生の要因として伝導妨害波成分がアンダーサンプリングされる仮説を検証し，誤動作が発生する最小電力をばらつきの幅の範囲で予測できることを示した．確実なイミュニティ性能の等価性確認を行うためには，設計情報等からイミュニティ性能に与える寄与度の高い設計パラメータを特定し，適切なサンプル選別を行うことが肝要である． |
| （英） | In this study, we analyzed an effect of an immunity performance for a semiconductor product with differential amplifier by manufacturing variations. By a multivariate analysis whose objective variables are several DPI measurement results obtained beforehand and whose explanatory variables are various parameters that will affect immunity performance, it becomes apparent that some parameters related frequencies and amplitude gains have a large contribution to the performance. The maximum difference among samples with different oscillation frequency is 8.7 dB. We validated a hypothesis that the difference is coursed by under sampling of conducted disturbance noise and confirmed the minimum power that coursed failure can be estimated with range of manufacturing variation. In order to confirm the immunity performance equivalence certainly, it is concluded that identifying key parameter and selection of suitable samples are most important. | |
| キーワード | （和） | 伝導イミュニティ / DPI評価 / 半導体 / 作動増幅回路 / 多変量解析 / / / |
| （英） | Conducted Immunity / DPI method / Semiconductor / Differential amplifier / Multivariate analysis / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 114, EMCJ2024-28, pp. 34-39, 2024年7月. | |
| 資料番号 | EMCJ2024-28 | |
| 発行日 | 2024-07-11 (EMCJ) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2024-28 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2024-07-18 - 2024-07-18 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 若手研究者発表会 |
| テーマ（英） | Young Scientist Meeting |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2024-07-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 製造ばらつきを考慮した半導体製品のイミュニティ性能等価性に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study on immunity performance equivalence of semiconductor products considering manufacturing variations |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 伝導イミュニティ / Conducted Immunity |
| キーワード(2)（和/英） | DPI評価 / DPI method |
| キーワード(3)（和/英） | 半導体 / Semiconductor |
| キーワード(4)（和/英） | 作動増幅回路 / Differential amplifier |
| キーワード(5)（和/英） | 多変量解析 / Multivariate analysis |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 須郷 秀武 / Hidetake Sugo / スゴウ ヒデタケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社デンソー (略称： デンソー) DENSO CORPORATION (略称： DENSO CORP.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岡 典正 / Norimasa Oka / オカ ノリマサ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社デンソー (略称： デンソー) DENSO CORPORATION (略称： DENSO CORP.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松崎 剛 / Takeshi Matsuzaki / マツザキ タケシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 株式会社デンソー (略称： デンソー) DENSO CORPORATION (略称： DENSO CORP.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-07-18 15:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2024-28 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.114 |
| ページ範囲 | pp.34-39 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-07-11 (EMCJ) |
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