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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-08-08 16:45 楽観/悲観構造的記号シミュレーションを用いたテスト並列化のためのドントケア割当て及びテストスケジューリング法 ○徳田晴太・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）  CPSY2024-25 DC2024-25 RECONF2024-25 |
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| 抄録 | （和） | 近年，VLSI のテストコスト増大に伴い，テストパターン数の削減が重要になっている．テストパターン数を削減するためのレジスタ転送レベルでのテスト容易化設計手法が提案されている．その手法はデータパスの中のハードウェア要素を並列にテストすることを目的として，コントローラの状態遷移時にデータパスに供給される制御信号中のドントケア値に，論理値を割当てる．従来手法は，できる限り少数の状態遷移を用いて，できる限り多数のハードウェア要素をテストすることでテストパターン数の削減を図っている．本論文では，多数のテストパターンを必要とするハードウェア要素である演算器に着目し，できる限り多数の状態遷移で演算器を並列テストするようなドントケア割当て手法を提案し，さらにデータパスの推定テストパターン数を最小化するために，各状態遷移で生成するテストパターン数を決定するテストスケジューリング手法を提案する． |
| （英） | In recent years, with the increasing test cost of VLSIs, it has become important to reduce the number of test patterns. Design-for-testability methods at register transfer level have been proposed to reduce the number of test patterns. The methods aim to concurrently test hardware elements in a data-path by assigning logical values to don't-care values (Xs) in control signals supplied to the data-path when a controller transitions between states. The conventional method aims to reduce the number of test patterns by testing as many hardware elements as possible using as few state transitions as possible. In this paper, we focus on operational units, which are hardware elements that require a large number of test patterns, and propose a X-filling method that concurrently tests operational units with as many state transitions as possible. We also propose a test scheduling method that determines the number of test patterns to be generated at each state transition in order to minimize the estimated number of test patterns for data-paths from controllers with X-filling. | |
| キーワード | （和） | 制御信号 / ドントケア割当て / テスト並列化 / 構造的記号シミュレーション / 擬似ブール最適化 / / / |
| （英） | control signals / X-filling / concurrent test / structural symbolic simulation / pseudo boolean optimization / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 149, DC2024-25, pp. 46-51, 2024年8月. | |
| 資料番号 | DC2024-25 | |
| 発行日 | 2024-07-31 (CPSY, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2024-25 DC2024-25 RECONF2024-25 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY DC RECONF IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2024-08-07 - 2024-08-09 |
| 開催地（和） | あわぎんホール |
| 開催地（英） | Awagin Hall |
| テーマ（和） | SWoPP2024: 並列／分散／協調システムとディペンダブルコンピューティングおよび一般 |
| テーマ（英） | SWoPP2024: Parallel, Distributed and Cooperative Processing Systems and Dependable Computing |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2024-08-CPSY-DC-RECONF-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 楽観/悲観構造的記号シミュレーションを用いたテスト並列化のためのドントケア割当て及びテストスケジューリング法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | X-Filling and Test Scheduling Methods for Concurrent Testing Using Optimistically/Pessimistically Structural Symbolic Simulation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 制御信号 / control signals |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア割当て / X-filling |
| キーワード(3)（和/英） | テスト並列化 / concurrent test |
| キーワード(4)（和/英） | 構造的記号シミュレーション / structural symbolic simulation |
| キーワード(5)（和/英） | 擬似ブール最適化 / pseudo boolean optimization |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 徳田 晴太 / Haruta Tokuta / トクタ ハルタ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都産業大学 (略称： 京都産大) Kyoto Sangyo University (略称： Kyoto Sangyo Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-08-08 16:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2024-25, DC2024-25, RECONF2024-25 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.148(CPSY), no.149(DC), no.150(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.46-51 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-07-31 (CPSY, DC, RECONF) |
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