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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-08-30 14:05 Riccatiモデルの負パラメータ推定の原因分析 ○佐藤大輔（福岡工大）  R2024-26 EMD2024-20 CPM2024-36 OPE2024-76 LQE2024-23 |
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| 抄録 | （和） | Riccati方程式は，ソフトウェア信頼性工学における習熟S字形ソフトウェア信頼度成長モデルや新製品普及モデルにおけるBassモデルなどに応用されている．実データからRiccati方程式のパラメータを推定することにより予測に用いられる．パラメータ推定の際，説明変数が2つあるため実データによっては本来正であるはずのパラメータが負と推定されてしまうことがある．以前は多重共線性が原因と言われていたが多重共線性を完全に排除してもパラメータが負と推定されてしまうことがある．原因としてモデルが不適である可能性とノイズによる可能性が考えられる．ここではノイズによる可能性に着目し，初期のデータにおいて局所的に上に凸となっていることが原因となっていることを明らかにした． |
| （英） | A negative parameter can be estimated on an inflection S-shaped software reliability growth model in software reliability engineering and the Bass model in new product diffusion models although the parameter must be positive on these models. These models are described as Riccati equations. The exact solutions of the Riccati equations show S-shaped curves. Two causes of the negative parameter are supposed. The models does not suppose to meet actual data when the negative parameter is estimated. Or noise included in actual data supposes to affect the negative parameter estimation. The latter cause is focused in this paper. Analyses in this paper revealed that the negative parameter is estimated when actual data include many local convex upward data in the early phase. | |
| キーワード | （和） | 習熟S字形ソフトウェア信頼度成長モデル / リッカチ方程式 / 差分方程式 / 厳密解 / 多重共線性 / / / |
| （英） | Inflection S-shaped software reliability growth model / Inflection S-shaped software reliability growth model, Riccati equation / difference equation / exact solution / multicollinearity / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 167, R2024-26, pp. 67-70, 2024年8月. | |
| 資料番号 | R2024-26 | |
| 発行日 | 2024-08-22 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2024-26 EMD2024-20 CPM2024-36 OPE2024-76 LQE2024-23 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM LQE OPE EMD R |
| 開催期間 | 2024-08-29 - 2024-08-30 |
| 開催地（和） | 弘前大学文京町地区キャンパス 創立50周年記念会館 |
| 開催地（英） | Hirosaki University |
| テーマ（和） | 受光素子，変調器，光部品・電子デバイス実装・信頼性，及び一般 |
| テーマ（英） | Photodetectors, Modulators, Optical Electrical device packaging and reliability |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2024-08-CPM-LQE-OPE-EMD-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | Riccatiモデルの負パラメータ推定の原因分析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Diagnosis of a negative estimated parameter on a Riccati model |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 習熟S字形ソフトウェア信頼度成長モデル / Inflection S-shaped software reliability growth model |
| キーワード(2)（和/英） | リッカチ方程式 / Inflection S-shaped software reliability growth model, Riccati equation |
| キーワード(3)（和/英） | 差分方程式 / difference equation |
| キーワード(4)（和/英） | 厳密解 / exact solution |
| キーワード(5)（和/英） | 多重共線性 / multicollinearity |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 大輔 / Daisuke Satoh / サトウ ダイスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 福岡工業大学 (略称： 福岡工大) Fukuoka Institute of Technology (略称： FIT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-08-30 14:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2024-26, EMD2024-20, CPM2024-36, OPE2024-76, LQE2024-23 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.167(R), no.168(EMD), no.169(CPM), no.170(OPE), no.171(LQE) |
| ページ範囲 | pp.67-70 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2024-08-22 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) |
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