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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-03-14 13:20 ミリ波集束ビーム反射法による誘電体板の複素誘電率の局所測定 ○横澤恒星・西方敦博（科学大）  EMCJ2024-109 |
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| 抄録 | （和） | ミリ波集束ビーム反射法を用いて誘電体板の複素比誘電率$varepsilon_r$の局所測定を行った。 周波数帯33～50 GHzにおいて1ポート測定による操作の容易な測定システムを構築し，軸合わせ・焦点合わせの手順を確立した。基準反射板の上に貼付した試料にビームを集束させて反射係数を求め，$varepsilon_r$を逆算した。その際，時間ゲート処理による不要反射波除去の有効性を示した. 厚さの異なるポリプロピレンとアクリル樹脂，シリコーンゴムを用いて測定を行い， $varepsilon_r$の測定可能性および空間分解能を評価した。 さらに，異なる誘電体を組み合わせた試料の2次元測定を行い，異種誘電体の比誘電率分布測定が可能であることを示した。 |
| （英） | Local measurement of the complex permittivity $varepsilon_r$ of a dielectric plate was performed using the millimeter-wave focused beam reflection method. An easy-to-operate one-port measurement system was established in the frequency range of 33 to 50 GHz, and the procedures of axis alignment and focusing were established. The reflection coefficients were obtained by focusing the beam on a sample attached on a reference reflector, and $varepsilon_r$ was calculated backward. The effectiveness of time gating to remove unwanted reflected waves was demonstrated. Measurements were performed using polypropylene, acrylic resin, and silicone rubber with different thicknesses to evaluate the possibility of $varepsilon_r$ measurement and spatial resolution. Furthermore, two-dimensional measurements of samples with different dielectric materials were performed, and it was shown that it is possible to measure the relative permittivity distribution of heterogeneous dielectrics. |
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| キーワード | （和） | 集束ビーム法 / 複素誘電率測定 / 空間分解能 / 局所測定 / / / / |
| （英） | Focused beam method / complex permittivity measurement / spatial resolution / local measurement / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 436, EMCJ2024-109, pp. 30-35, 2025年3月. | |
| 資料番号 | EMCJ2024-109 | |
| 発行日 | 2025-03-07 (EMCJ) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2024-109 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ MICT |
| 開催期間 | 2025-03-14 - 2025-03-14 |
| 開催地（和） | 福江総合福祉保健センター（五島市） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 生体，EMC一般，ヘルスケア・医療情報通信技術 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2025-03-EMCJ-MICT |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ミリ波集束ビーム反射法による誘電体板の複素誘電率の局所測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Local Measurement of Complex Permittivity of Planar Dielectrics by Using Millimeter Wave Focusing Beam Reflection Method |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 集束ビーム法 / Focused beam method |
| キーワード(2)（和/英） | 複素誘電率測定 / complex permittivity measurement |
| キーワード(3)（和/英） | 空間分解能 / spatial resolution |
| キーワード(4)（和/英） | 局所測定 / local measurement |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 横澤 恒星 / Kosei Yokosawa / ヨコサワ コウセイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京科学大学 (略称： 科学大) Institute of Science Tokyo (略称： Science Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西方 敦博 / Nishikata Atsuhiro / ニシカタ アツヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京科学大学 (略称： 科学大) Institute of Science Tokyo (略称： Science Tokyo) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-03-14 13:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2024-109 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.436 |
| ページ範囲 | pp.30-35 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2025-03-07 (EMCJ) |
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