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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-11-14 16:40 フリップチップの意図的な裏面電圧印加によるディジタル回路特性変動の評価 ○横田脩平・長谷川陸宇・弘原海拓也・門田和樹（神戸大）・坂本純一・川村信一（産総研）・永田 真（神戸大）  HWS2025-70 ICD2025-35 |
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| 抄録 | （和） | 近年,IC チップを反転させて基板に直接実装する技術であるフリップチップ実装が主流となっている. フリップチップ実装は,小面積・低背化による高性能・高密度のメリットがある.一方,シリコンチップの裏面が露出 されれば,意図的な導入もしくは周囲環境による物理擾乱に晒されるデメリットも想定される.本研究では,裏面物理 擾乱として,IC チップ裏面の高電圧印加によるディジタル回路特性の変動を評価対象として,カスケードインバータ の入出力信号の遅延変動を計測する実験評価手段について探索した. |
| （英） | In recent years, flip-chip packaging, a technique in which IC chips are flipped and directly mounted onto the substrate, has become the mainstream approach. While flip-chip implementation offers the advantage of achieving higher integration density, it also has the potential drawback that the exposed backside of the Si chip is susceptible to various disturbance. In this study, we explore the effects of backside disturbances in a cascaded inverter structure and exploit several techniques to evaluate the variation of digital circuit characteristics . |
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| キーワード | （和） | カスケードインバータ / フリップチップ / 裏面電圧印加 / / / / / |
| （英） | Cascaded inverter / Flip-chip / Backside biasing / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 249, ICD2025-35, pp. 45-47, 2025年11月. | |
| 資料番号 | ICD2025-35 | |
| 発行日 | 2025-11-07 (HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | HWS2025-70 ICD2025-35 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD HWS |
| 開催期間 | 2025-11-14 - 2025-11-14 |
| 開催地（和） | 熊本大学(工学部百周年記念館) |
| 開催地（英） | Kumamoto University |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2025-11-ICD-HWS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | フリップチップの意図的な裏面電圧印加によるディジタル回路特性変動の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of digital circuit characteristic variations caused by intentional backside voltage application in flip-chip devices |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | カスケードインバータ / Cascaded inverter |
| キーワード(2)（和/英） | フリップチップ / Flip-chip |
| キーワード(3)（和/英） | 裏面電圧印加 / Backside biasing |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 横田 脩平 / Shuhei Yokota / ヨコタ シュウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 陸宇 / Rikuu Hasegawa / ハセガワ リクウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 弘原海 拓也 / Takuya Wadatsumi / ワダツミ タクヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 門田 和樹 / Kazuki Monta / モンタ カズキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂本 純一 / Junichi Sakamoto / サカモト ジュンイチ |
| 第5著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川村 信一 / Shinichi Kawamura / カワムラ シンイチ |
| 第6著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第7著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-11-14 16:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | HWS2025-70, ICD2025-35 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.248(HWS), no.249(ICD) |
| ページ範囲 | pp.45-47 |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | 2025-11-07 (HWS, ICD) |
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