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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-12-04 15:10 電子回路試作基板の自動回路構成比較による動作不良原因の推定 ○林 哲矢・田中 剛・遠藤雅樹・寺田憲司・大野成義（職業大）  R2025-52 |
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| 抄録 | （和） | 本研究は，工学教育において教員が行っている電子回路試作基板の不良診断作業をデジタル化することを目的とし，電源投入を必要とせずに動作不良の有無および原因を自動的に推定する回路図解析方法を提案する．動作不良の原因は，断線，短絡，部品からの予期しない出力の3つの要因に集約され，回路構成および回路動作の2つの観点から比較・解析を行うことで推定を可能にする．提案方法を実際の電子回路試作基板に適用した結果，動作不良の有無を高精度に判定できることを確認した．また，構成が複雑な回路に対しても有効な診断支援方法としての可能性を示した． |
| （英） | This study aims to digitalize the fault diagnosis process performed by instructors in engineering education. We propose a circuit diagram analysis method that automatically estimates both the presence and the causes of operational defects in electronic circuit prototype boards without requiring power activation. The causes of operational defects are categorized into three factors—disconnection, short circuit, and unexpected component output—and are inferred through comparative analyses from two perspectives: circuit structure and circuit behavior. Experimental validation using actual prototype boards demonstrated that the proposed method can accurately determine the presence of operational defects with high reliability. Furthermore, the results indicate the potential of this approach as an effective diagnostic support tool, even for circuits with complex configurations. | |
| キーワード | （和） | 電子回路試作基板 / 不良推定 / トラブルシューティング / 回路構成比較 / 回路動作比較 / / / |
| （英） | Circuit prototyped boards / Defect estimation / Troubleshooting / Schematic configuration comparison / Circuit operation comparison / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 268, R2025-52, pp. 19-24, 2025年12月. | |
| 資料番号 | R2025-52 | |
| 発行日 | 2025-11-27 (R) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2025-52 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2025-12-04 - 2025-12-04 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 信頼性国際規格，保全性，信頼性一般，安全性一般 |
| テーマ（英） | Reliability International Standard, Maintainability, Reliability General, Safety General |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2025-12-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電子回路試作基板の自動回路構成比較による動作不良原因の推定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Estimating Causes of Defective Operation in Prototype Electronic Circuit Boards Through Automated Circuit Configuration Comparison |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電子回路試作基板 / Circuit prototyped boards |
| キーワード(2)（和/英） | 不良推定 / Defect estimation |
| キーワード(3)（和/英） | トラブルシューティング / Troubleshooting |
| キーワード(4)（和/英） | 回路構成比較 / Schematic configuration comparison |
| キーワード(5)（和/英） | 回路動作比較 / Circuit operation comparison |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 哲矢 / Tetsuya Hayashi / ハヤシ テツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 職業能力開発総合大学校 (略称： 職業大) The Polytechnic University of Japan (略称： PTU) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中 剛 / Tsuyoshi Tanaka / タナカ ツヨシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 職業能力開発総合大学校 (略称： 職業大) The Polytechnic University of Japan (略称： PTU) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 遠藤 雅樹 / Masak Endo / エンドウ マサキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 職業能力開発総合大学校 (略称： 職業大) The Polytechnic University of Japan (略称： PTU) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 寺田 憲司 / Kenji Terada / テラダ ケンジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 職業能力開発総合大学校 (略称： 職業大) The Polytechnic University of Japan (略称： PTU) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大野 成義 / Shigeyoshi Ohno / オオノ シゲヨシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 職業能力開発総合大学校 (略称： 職業大) The Polytechnic University of Japan (略称： PTU) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-12-04 15:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2025-52 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.268 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2025-11-27 (R) |
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