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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2026-03-05 13:25 ［記念講演］FIawase: A SET Fault Injection Framework Towards Exhaustive System-Level Impact Evaluation ○Zhang Mingtao・Cheng Quan・Hashimoto Masanori（Kyoto Uni.）  VLD2025-91 HWS2025-87 ICD2025-102 |
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| 抄録 | （和） | SETはECCを備えたSoCにおいても深刻な問題である．従来のゲートレベルSETフォールトインジェクションは低速であり，実用的な信頼性評価が困難である．本研究では，高スループットSET注入フレームワークFIawaseを提案する．FIawaseは，ネットリストレベルのinject-and-captureシミュレーションと，スキャンチェーンを用いたreplay-and-measureエミュレーションの二段階から構成される．RISC-Vシステム上での評価により，SET注入時間を数十年規模から約1日に短縮し，4桁以上の高速化を達成した．本手法により，網羅的かつサイクル精度のSET解析が可能となる． |
| （英） | Single-event transients (SETs) threaten modern reliability-demanding SoCs equipped with error correction codes (ECC) for single event upset (SEU) mitigation. However, conventional gate-level SET fault injection (FI) remains prohibitively slow for practical reliability evaluation. This work presents FIawase, a high-throughput SET injection framework that enables comprehensive system-level evaluation of SET-induced soft errors. FIawase consists of two phases: a netlist-level inject-and-capture simulation, which systematically flips the output of every gate–cycle pair during program execution to record flip-flop changes one cycle later, and a scan-chain-based replay-and-measure emulation, which replays these patterns at hardware speed to quantify system-level impact. Implemented on an open-source RISC-V system, FIawase reduces a comprehensive SET injection campaign from decades of pure simulation to nearly a day, achieving over four orders of magnitude end-to-end speedup. FIawase takes a critical first step toward exhaustive, cycle-accurate SET analysis, enabling architectural and reliability research at previously infeasible scales. | |
| キーワード | （和） | 信頼性 / フォールトインジェクション / ソフトエラー / / / / / |
| （英） | Reliability / Fault Injection / Soft Errors / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 382, VLD2025-91, pp. 90-96, 2026年3月. | |
| 資料番号 | VLD2025-91 | |
| 発行日 | 2026-02-25 (VLD, HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2025-91 HWS2025-87 ICD2025-102 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD HWS VLD |
| 開催期間 | 2026-03-04 - 2026-03-07 |
| 開催地（和） | みんなの貸会議室 那覇旭町店404会議室 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2026-03-ICD-HWS-VLD |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | FIawase: A SET Fault Injection Framework Towards Exhaustive System-Level Impact Evaluation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 信頼性 / Reliability |
| キーワード(2)（和/英） | フォールトインジェクション / Fault Injection |
| キーワード(3)（和/英） | ソフトエラー / Soft Errors |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 張 明涛 / Zhang Mingtao / チョウ ミンタオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Uni.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 程 全 / Cheng Quan / |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Uni.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋本 昌宜 / Hashimoto Masanori / |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Uni.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2026-03-05 13:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2025-91, HWS2025-87, ICD2025-102 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.382(VLD), no.383(HWS), no.384(ICD) |
| ページ範囲 | pp.90-96 |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | 2026-02-25 (VLD, HWS, ICD) |
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