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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2026-03-06 09:55 サイドチャネル情報を用いたマイクロコントローラの多レベル経年劣化検出手法の検討 ○早川 駆（東北大）・林 優一（奈良先端大）・永田 真（神戸大）・本間尚文（東北大）  VLD2025-101 HWS2025-97 ICD2025-112 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では，サイドチャネル情報を用いたマイクロコントローラの経年劣化検出手法について述べる．特に，マイクロコントローラが動作中に生じる消費電力の周波数スペクトルが経年劣化により変化することに着目し，ニューラルネットワークモデルに基づく多レベルの経年劣化検出手法を提案する．提案手法は，マイクロコントローラが基板上に実装された後でも非侵襲・非破壊かつ厳密な周波数同定を必要とせずに検知を行うものであり，市場に流通する非正規中古品等を検知し得る．市販マイクロコントローラの実機実験を通して，提案手法により100トレース程度で高精度に経年劣化の度合いを複数レベルの分類可能であることを示す． |
| （英） | This paper presents a method for detecting microcontroller aging using side-channel information. Specifically, we focus on the variations in the frequency spectrum of power consumption during operation caused by aging and propose a multi-level aging detection method based on a neural network model. The proposed method enables non-invasive and non-destructive detection after the microcontroller has been mounted on a printed circuit board (PCB) without requiring rigorous frequency identification; thus, it can effectively detect recycled or counterfeit ICs in the market. Experimental results using commercially available microcontrollers demonstrate that the proposed method can accurately classify multiple levels of aging with approximately 100 power traces. | |
| キーワード | （和） | サプライチェーン・セキュリティ / マイクロコントローラ / 経年劣化 / サイドチャネル解析 / / / / |
| （英） | supply chain security / microcontroller / aging / side-channel analysis / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 383, HWS2025-97, pp. 141-146, 2026年3月. | |
| 資料番号 | HWS2025-97 | |
| 発行日 | 2026-02-25 (VLD, HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2025-101 HWS2025-97 ICD2025-112 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD HWS VLD |
| 開催期間 | 2026-03-04 - 2026-03-07 |
| 開催地（和） | みんなの貸会議室 那覇旭町店404会議室 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2026-03-ICD-HWS-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | サイドチャネル情報を用いたマイクロコントローラの多レベル経年劣化検出手法の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on Multilevel Detection of Aging in Microcontrollers based on Side-Channel Information |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | サプライチェーン・セキュリティ / supply chain security |
| キーワード(2)（和/英） | マイクロコントローラ / microcontroller |
| キーワード(3)（和/英） | 経年劣化 / aging |
| キーワード(4)（和/英） | サイドチャネル解析 / side-channel analysis |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 早川 駆 / Kakeru Hayakawa / ハヤカワ カケル |
| 第1著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) NARA Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 本間 尚文 / Naofumi Homma / ホンマ ナオフミ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2026-03-06 09:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | VLD2025-101, HWS2025-97, ICD2025-112 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.382(VLD), no.383(HWS), no.384(ICD) |
| ページ範囲 | pp.141-146 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2026-02-25 (VLD, HWS, ICD) |
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