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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2026-03-17 11:15 AES故障利用攻撃における鍵候補削減に向けた故障注入タイミングの変更と検証 ○宮田好樹・布田裕一（東京工科大）・岡崎裕之（信州大）・三重野武彦（エプソンアヴァシス）  IT2025-125 ISEC2025-133 WBS2025-107 RCC2025-106 |
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| 抄録 | （和） | 故障利用攻撃は理論上安全な暗号への脅威となるため，対策が必要である． 玉川らは一般のマイコンボードに対する攻撃を示したが，攻撃対象のAESプログラムの改変が前提である．著者らはファンクションジェネレータを用い一部の制約の緩和に成功したが，故障文のパターンの不足のため鍵候補が約$1046^3$通り残り，鍵候補の絞り込みが不十分な点が課題である． 本稿では，既存研究で実施されたSubBytes処理以外の位置に故障を注入することで，さらなる故障文を探索する．その結果，さらなる鍵の絞り込みが可能な故障文を発見した． |
| （英） | Countermeasures against Fault Injection Attacks are essential, because their attacks pose a threat to theoretically secure encryption algorithms. Tamagawa et al. demonstrated a method for fault injection attacks on general-purpose microcontroller boards. However, their method requires modifying the target AES program. We previously succeeded in reducing some of these constraints by using a function generator. However, due to an insufficient variety of fault ciphertexts, approximately $1046^3$ key candidates remained. In this report, we search additional fault ciphertexts by injecting faults into operations other than the SubBytes step targeted in prior research. As a result, we discovered a fault ciphertext that enable further reduction of the key space. |
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| キーワード | （和） | ハードウェアセキュリティ / サイドチャネル攻撃 / 故障利用解析 / / / / / |
| （英） | Hardware security / Side-channel attacks / Fault-injection analysis / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 405, ISEC2025-133, pp. 298-305, 2026年3月. | |
| 資料番号 | ISEC2025-133 | |
| 発行日 | 2026-03-09 (IT, ISEC, WBS, RCC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | IT2025-125 ISEC2025-133 WBS2025-107 RCC2025-106 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | IT WBS ISEC RCC |
| 開催期間 | 2026-03-16 - 2026-03-17 |
| 開催地（和） | 信州大学 長野キャンパス |
| 開催地（英） | Nagano Campus, Shinshu University |
| テーマ（和） | ISEC/IT/RCC/WBS合同研究会 |
| テーマ（英） | Joint Workshop of ISEC, IT, RCC, and WBS |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ISEC |
| 会議コード | 2026-03-IT-WBS-ISEC-RCC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | AES故障利用攻撃における鍵候補削減に向けた故障注入タイミングの変更と検証 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Modifying Fault Injection Timing to Reduce Key Candidates in AES Fault Injection Attacks |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ハードウェアセキュリティ / Hardware security |
| キーワード(2)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / Side-channel attacks |
| キーワード(3)（和/英） | 故障利用解析 / Fault-injection analysis |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮田 好樹 / Koki Miyata / ミヤタ コウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工科大学 (略称： 東京工科大) Tokyo University of Technology (略称： TUT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 布田 裕一 / Yuichi Futa / フタ ユウイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京工科大学 (略称： 東京工科大) Tokyo University of Technology (略称： TUT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岡崎 裕之 / Hiroyuki Okazaki / オカザキ ヒロユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 信州大学 (略称： 信州大) Shinshu University (略称： Shinshu Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三重野 武彦 / Takehiko Mieno / ミエノ タケヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | エプソンアヴァシス株式会社 (略称： エプソンアヴァシス) EPSON AVASYS CORPORATION (略称： EPSON AVASYS) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2026-03-17 11:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ISEC |
| 資料番号 | IT2025-125, ISEC2025-133, WBS2025-107, RCC2025-106 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.404(IT), no.405(ISEC), no.406(WBS), no.407(RCC) |
| ページ範囲 | pp.298-305 |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | 2026-03-09 (IT, ISEC, WBS, RCC) |
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