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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2026-06-02 10:55 複数機能的時間展開モデルを用いた推定フィールドランダムテスタビリティ向上のためのX割当てアルゴリズム ○仲本千騎・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）  CPSY2026-8 DC2026-8 RECONF2026-8 |
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| 抄録 | （和） | ミッションクリティカルなシステムに搭載されているVLSIは経年劣化による欠陥を検出するために，フィールドテストが必要とされている．電源オン/オフ時のような短時間に回路を網羅的にテストするために，非スキャンベースの組込み自己テスト手法が提案されている．また，RTLでのデータパスのテスタビリティ尺度として，コントローラに与えられた状態信号系列とデータパスの回路構造に基づいて計算される推定フィールドランダムテスタビリティ(EFRT)が提案されている．しかしながら，コントローラからデータパスに供給される制御信号系列にドントケア(X)が含まれている場合，そのX割当てによってEFRTが変動する．与えられた状態信号系列長で構造的記号シミュレーションを実行した後の最終時刻から順に機能的時間展開モデルによってEFRTを向上させる制御信号のX割当て手法が提案されているが，まだEFRTに課題が残る．本論文では，EFRTを改善するために，複数の機能的時間展開モデルを用いた制御信号系列に対するX割当てアルゴリズムを提案する． |
| （英） | Field testing is required for VLSIs on mission-critical systems to detect defects due to aging. Non-scan-based built-in self-test methods have been proposed to comprehensively test circuits in short periods of time such as when the power is turned on and off. As a testability measure for data paths at register transfer level, estimated field random testability (EFRT), which is calculated based on the status signal sequence given to the controller and the circuit structures of the data paths, was proposed. However, when control signal sequences supplied from controllers to data-paths contain don't-cares (X), the EFRT varies depending on the X assignment. An X filling method for control signal sequences has been proposed that uses a functional time expansion model in reverse order from the final time step after structural symbolic simulation is performed for a given status signal sequence length; however, EFRT still remains insufficient. In this paper, we propose an X filling algorithm for control signal sequences using multiple functional time expansion models for data-paths to improve EFRT. | |
| キーワード | （和） | フィールドテスト / 組込み自己テスト / 悲観/楽観構造的記号シミュレーション / 状態信号系列 / 制御信号系列 / 推定フィールドランダムテスタビリティ / / |
| （英） | field testing / build-in self-test / pessimistic /optimistic structural symbol simulation / status signal sequences / control sequences / estimated field random testability / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 126, no. 50, DC2026-8, pp. 38-43, 2026年6月. | |
| 資料番号 | DC2026-8 | |
| 発行日 | 2026-05-25 (CPSY, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2026-8 DC2026-8 RECONF2026-8 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY DC RECONF IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2026-06-01 - 2026-06-03 |
| 開催地（和） | 秋保リゾートホテルクレセント |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 【HotSPA2026】 アーキテクチャ，コンピュータシステム，ディペンダブルコンピューティング， リコンフィギャラブルシステム，および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2026-06-CPSY-DC-RECONF-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 複数機能的時間展開モデルを用いた推定フィールドランダムテスタビリティ向上のためのX割当てアルゴリズム |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Don't Care Filling Algorithm to Improve Estimated Field Random Testability Using Multiple Functional Time Expansion Models |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | フィールドテスト / field testing |
| キーワード(2)（和/英） | 組込み自己テスト / build-in self-test |
| キーワード(3)（和/英） | 悲観/楽観構造的記号シミュレーション / pessimistic /optimistic structural symbol simulation |
| キーワード(4)（和/英） | 状態信号系列 / status signal sequences |
| キーワード(5)（和/英） | 制御信号系列 / control sequences |
| キーワード(6)（和/英） | 推定フィールドランダムテスタビリティ / estimated field random testability |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 仲本 千騎 / Kazuki Nakamoto / ナカモト カズキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都産業大学 (略称： 京都産大) Kyoto Sangyo Uniiversity (略称： Kyoto Sangyo Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2026-06-02 10:55:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2026-8, DC2026-8, RECONF2026-8 |
| 巻番号（vol） | vol.126 |
| 号番号（no） | no.49(CPSY), no.50(DC), no.51(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.38-43 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2026-05-25 (CPSY, DC, RECONF) |
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