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講演抄録/キーワード
講演名 2026-09-10 14:10
オンウエハミリ波測定におけるTRL/SOLT校正の比較評価と基板材料依存性
早坂淳一電磁研)・吉田 信シーデックス
抄録 (和) (開催日以降に掲載されます) 
(英) (Available after conference date)
キーワード (和) TRL校正 / オンウェハ測定 / ミリ波測定 / アルミナ基板 / 石英基板 / 窒化アルミニウム基板 / RFフィルタ /  
(英) TRL Calibration / On-Wafer Measurement / Millimeter-Wave Measurement / Alumina Substrate / Quartz Substrate / Aluminum Nitride Substrate / RF Filter /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日 2026-09-03 (MW) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 MW AP  
開催期間 2026-09-09 - 2026-09-11 
開催地(和) 石川県立図書館 
開催地(英) Ishikawa Prefectural Library 
テーマ(和) ミリ波/マイクロ波, 電波伝搬, ⼀般 
テーマ(英) Microwave, Millimeter wave, Radio propagation, Antennas and Propagation 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 MW 
会議コード 2026-09-MW-AP 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) オンウエハミリ波測定におけるTRL/SOLT校正の比較評価と基板材料依存性 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Comparative Evaluation of TRL and SOLT Calibrations for On-Wafer Millimeter-Wave Measurements and the Effects of Substrate Materials 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) TRL校正 / TRL Calibration  
キーワード(2)(和/英) オンウェハ測定 / On-Wafer Measurement  
キーワード(3)(和/英) ミリ波測定 / Millimeter-Wave Measurement  
キーワード(4)(和/英) アルミナ基板 / Alumina Substrate  
キーワード(5)(和/英) 石英基板 / Quartz Substrate  
キーワード(6)(和/英) 窒化アルミニウム基板 / Aluminum Nitride Substrate  
キーワード(7)(和/英) RFフィルタ / RF Filter  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 早坂 淳一 / Junichi Hayasaka / ハヤサカ ジュンイチ
第1著者 所属(和/英) 公益財団法人電磁材料研究所 (略称: 電磁研)
Research Institute for Electromagnetic Materials (略称: Denjiken)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 信 / Makoto Yoshida / ヨシダ マコト
第2著者 所属(和/英) 株式会社シーデックス (略称: シーデックス)
CDEX, Co., Ltd. (略称: CDEX)
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講演者 第1著者 
発表日時 2026-09-10 14:10:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 MW 
資料番号  
巻番号(vol) vol. 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日 2026-09-03 (MW) 


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