お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Ｃの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催プログラム		 技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップ  戻る   前のR研究会 / 次のR研究会 [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT]  [Japanese] / [English] 


信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 渡邉 均 (東京理科大)
副委員長 木村 光宏 (法政大)
幹事 馬渡 宏泰 (NTT)， 田村 信幸 (法政大)
幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)， マラット ザニケエフ (東京理科大)

日時 2012年11月15日(木)　14:00 - 17:30
議題 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 
会場名 中央電気倶楽部 
住所 〒530-0004 大阪市北区堂島浜2丁目1番25号
交通案内 http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html
会場世話人
連絡先		 杉谷全令
０６－６３４５－６３５１
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

11月15日(木) 午後 
14:00 - 17:30
(1) 14:00-14:25 ソフトウェア開発属性データを用いたニューラルネットワークによる潜在フォールト数の予測 R2012-60 ○嶋田遼平・木村光宏（法政大）
(2) 14:25-14:50 協調知識情報を考慮したワイブル分布の階層ベイズモデルと計算推論に基づくソフトウェアの信頼性解析 R2012-61 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）
(3) 14:50-15:15 プリント基板絶縁劣化のスクリーニング技術 R2012-62 ○黒川博志（菱電化成）・松岡敏成・八木　超（三菱電機）
(4) 15:15-15:40 MEMS薄膜の湿度による破断メカニズムと湿度試験の加速性 R2012-63 ○松井悦子・中尾太一・新谷淳一（オムロン）
  15:40-15:50 休憩　（ 10分 ）
(5) 15:50-16:15 チップセラミックコンデンサによる基板発火延焼の一考察 R2012-64 ○岩谷康次郎・柳井健太郎・真鍋里美（オムロン）
(6) 16:15-16:40 リチウムイオン二次電池の安全性と評価試験 R2012-65 ○岡本　学・河合秀己・奥山　新・青木雄一（エスペック）
(7) 16:40-17:05 焼損再現実験 R2012-66 池本　裕・○小松泰之（クオルテック）
(8) 17:05-17:30 海外調達基板の評価方法の一考察 R2012-67 ○伊藤貞則（イトケン事務所）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 田村信幸（法政大学）
TEL 042-387-6262
FAX 042-387-6126
E--mail: i 


Last modified: 2012-09-21 09:59:47


ご注意： 迷惑メール対策のためメールアドレスの一部の文字を置換しております．ご了承ください．
[この開催に関する講演論文リストをダウンロードする] ※ こちらのページの最下にあるダウンロードボタンを押してください
 
[研究会資料インデックス(vol. no.ごとの表紙と目次)]
 
[研究会発表・参加方法，FAQ] ※ ご一読ください
 
[R研究会のスケジュールに戻る]   /  
 
 トップ  戻る   前のR研究会 / 次のR研究会 [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT]  [Japanese] / [English] 

[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]
IEICE / 電子情報通信学会