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集積回路研究会（ICD）

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専門委員長		亀山充隆
副委員長		中屋雅夫
幹事		内山邦男，宮野信治
幹事補佐		張山昌論，甲斐康司

電子部品・材料研究会（CPM）

[schedule] [select]

専門委員長		星陽一
副委員長		石井清
幹事		藤浦和夫，北本仁孝
幹事補佐		松浦徹

日時	2005年 1月27日(木)　13:00 - 17:15 2005年 1月28日(金)　09:00 - 17:15
議題	LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般
会場名	機械振興会館
住所	〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8

1月27日(木) 午後 13:00 - 15:00
(1)	13:00-13:30	ＬＳＩ断線箇所診断手法	○小宮泰麿・菊地修司（日立）・嶋瀬　朗・向川一也（ルネサステクノロジ）
(2)	13:30-14:00	９０ｎｍデバイスのＬＶＰ測定容易性評価とLVP測定用素子の開発	○野中淳平・和田慎一（NECエレクトロニクス）
(3)	14:00-14:30	SILプレートによる高分解能故障解析	○吉田岳司・小山　徹・小守純子・益子洋治（ルネサステクノロジ）
(4)	14:30-15:00	作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザＳＱＵＩＤ顕微鏡による観測	○酒井哲哉・二川　清（NECエレクトロニクス）
	15:00-15:15	休憩　（ 15分）
1月27日(木) 午後 15:15 - 17:15
(5)	15:15-16:15	［特別招待講演］ULSIデバイス解析評価技術の現状と今後～ LSIの将来の生命線を握る解析技術～	○益子洋治（ルネサステクノロジ）
(6)	16:15-16:45	レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察	○山下将嗣・川瀬晃道・大谷知行（理研）・二川　清（NECエレクトロニクス）・斗内政吉（阪大）
(7)	16:45-17:15	Sn-Ag-X 鉛フリーはんだの高信頼性化への検討	○雨海正純（日本テキサス・インスツルメンツ）・大西　司・田島　武（千住金属）
1月28日(金) 午前 09:00 - 10:30
(8)	09:00-09:30	サーバ・ルータ向け１０Ｇｂｐｓ伝送プロトタイプ	柳生正義・山下寛樹・結城文夫・○川下達也・藤村康弘・高田芳文（日立）
(9)	09:30-10:00	高密度、多ピンパッケージにおける高信頼性確認手法と事例紹介	○橋本修平・川口泰雅・羽二生　稔・松永俊博・松尾光永・川谷直子・樋口裕久・高橋貴彦（日立）
(10)	10:00-10:30	高速ランダムアクセス混載 DRAM におけるパッケージ後の自動救済技術	○中山　篤・行川敏正・伊藤　洋・和田　修・藤井秀壮（東芝）
	10:30-10:45	休憩　（ 15分）
1月28日(金) 午前 10:45 - 12:15
(11)	10:45-11:15	アナログ回路の故障診断手法の検討	○久慈憲夫（八戸高専）
(12)	11:15-11:45	RTL故障診断技術の実用化に向けた開発	○二階堂正人・船津幸永（NECエレクトロニクス）
(13)	11:45-12:15	故障診断のための観測性の定量化について	○豊田直哉・梶原誠司・温　暁青（九工大）・真田　克（NECエレクトロニクス）
	12:15-13:30	昼食　（ 75分）
1月28日(金) 午後 13:30 - 15:30
(14)	13:30-14:00	テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について	○新谷道広・越智正邦・市原英行・井上智生（広島市大）
(15)	14:00-14:30	順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について	○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大）
(16)	14:30-15:00	機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法	○三浦克介・中前幸治・藤岡　弘（阪大）
(17)	15:00-15:30	スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法	○新井雅之・黒川晴申・市野憲一・福本　聡・岩崎一彦（都立大）
	15:30-15:45	休憩　（ 15分）
1月28日(金) 午後 15:45 - 17:15
(18)	15:45-16:15	Learning-Based Improvement in Fault Tolerance of Hopfield Associative Memories	○Naotake Kamiura・Teijiro Isokawa・Nobuyuki Matsui（Univ. of Hyogo）
(19)	16:15-16:45	65nm時代以降のSoCデバイステスト技術～ Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法～	○山崎　眞・古川靖夫（アドバンテスト）
(20)	16:45-17:15	経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用	○船津幸永・住友洋志・重田一樹・石山敏夫（NECエレクトロニクス）

講演時間
一般講演（30分）	発表 20 分＋質疑応答 10 分
特別招待講演（60分）	発表 50 分＋質疑応答 10 分

問合先と今後の予定
ICD	集積回路研究会（ICD） [今後の予定はこちら]
	問合先	甲斐康司（松下） TEL 0948-21-2625, FAX 0948-21-2620 E-: i-icdmlpac
CPM	電子部品・材料研究会（CPM） [今後の予定はこちら]
	問合先	藤浦和夫（NTTフォトニクス研究所） TFL046-240-4531,FAX046-240-4527 E-:uaecl