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信頼性研究会 (R) (検索条件: 2012年度)
「from:2012-11-15 to:2012-11-15」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| R | 2012-11-15 14:00 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | ソフトウェア開発属性データを用いたニューラルネットワークによる潜在フォールト数の予測 ○嶋田遼平・木村光宏（法政大）  R2012-60 |
ソフトウェア信頼性の定量的な評価を，その開発段階においてなるべく早期に，かつ精度よく行いたいという要望は自然なものである... [more] | R2012-60 pp.1-6 |
| R | 2012-11-15 14:25 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | 協調知識情報を考慮したワイブル分布の階層ベイズモデルと計算推論に基づくソフトウェアの信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） R2012-61 |
[more] | R2012-61 pp.7-10 |
| R | 2012-11-15 14:50 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | プリント基板絶縁劣化のスクリーニング技術 ○黒川博志（菱電化成）・松岡敏成・八木 超（三菱電機） R2012-62 |
プリント基板では高温高湿試験等での絶縁劣化に対する信頼性試験が実施される。この信頼性試験には長時間を要するという課題があ... [more] | R2012-62 pp.11-16 |
| R | 2012-11-15 15:15 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | MEMS薄膜の湿度による破断メカニズムと湿度試験の加速性 ○松井悦子・中尾太一・新谷淳一（オムロン） R2012-63 |
[more] | R2012-63 pp.17-21 |
| R | 2012-11-15 15:50 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | チップセラミックコンデンサによる基板発火延焼の一考察 ○岩谷康次郎・柳井健太郎・真鍋里美（オムロン） R2012-64 |
チップセラミックコンデンサを意図的に故障させ発火させる再現性の高い評価方法を開発した．この評価を行う事でチップセラミック... [more] | R2012-64 pp.23-26 |
| R | 2012-11-15 16:15 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | リチウムイオン二次電池の安全性と評価試験 ○岡本 学・河合秀己・奥山 新・青木雄一（エスペック） R2012-65 |
本稿では，リチウムイオン電池の安全性について代表的な試験規格や輸送に関わる安全性試験について紹介する．特にリチウムイオン... [more] | R2012-65 pp.27-30 |
| R | 2012-11-15 16:40 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | 焼損再現実験 池本 裕・○小松泰之（クオルテック） R2012-66 |
[more] | R2012-66 pp.31-35 |
| R | 2012-11-15 17:05 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | 海外調達基板の評価方法の一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所） R2012-67 |
海外調達品は工程審査をしても通常の管理の推察がし難いこともあって試験評価が非常に大切である。この評価は基準値に対してクリ... [more] | R2012-67 pp.37-40 |
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