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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 木村 光宏 (法政大)
副委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大)

日時 2014年11月20日(木)　13:45 - 16:25
議題 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 
会場名 大阪中央電気倶楽部 
住所 大阪市北区堂島浜２丁目１番２５号
交通案内 大阪駅より徒歩１２分，JR北新地駅より７分 ○地下鉄四つ橋線西梅田駅より６分ほか
http://www.chuodenki-club.or.jp/
会場世話人
連絡先		 杉谷全令 （オムロン（株））
06-6345-6351
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter，日本信頼性学会関西支部 共催
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

11月20日(木) 午後 
13:45 - 16:25
(1) 13:45-14:10 マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測 R2014-61 ○桃田　快・遠藤幸一・御堂義博・三浦克介・中前幸治（阪大）
(2) 14:10-14:35 ベイズに基づく劣化進行データの信頼性解析 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）
(3) 14:35-15:00 確率微分方程式に基づく劣化過程の信頼性解析 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）
  15:00-15:10 休憩　（ 10分 ）
(4) 15:10-15:35 最尤推定法に基づくセラミックコンデンサの電圧加速モデルの選択 R2014-62 ○松岡敏成（三菱電機）
(5) 15:35-16:00 結露試験に関する再現性の課題と微小結露試験による評価方法 R2014-63 ○西原麻友子・林沼一博（村田製作所）
(6) 16:00-16:25 微摺動摩耗試験の一考察 R2014-64 ○伊藤貞則（イトケン事務所）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 安里 彰（富士通）
E--mail: a 


Last modified: 2014-09-21 22:12:51


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