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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD | 2011-04-18 10:50 |
兵庫 | 神戸大学 瀧川記念館 | ［招待講演］NAND Flashメモリ高性能化の技術動向とNAND Flashプロセスでの混載DRAM技術 ○高島大三郎・野口充宏・柴田 昇・神田和重・助川 博・藤井秀壮（東芝）  ICD2011-2 |
本論文では、NAND Flashメモリの高性能化の技術動向と、標準NAND Flashプロセスを用いた混載DRAM技術に... [more] | ICD2011-2 pp.7-12 |
| ICD | 2008-04-17 13:05 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］コンシューマエレクトロニクス向け混載DRAM技術 ○白井浩樹・石川亮佑・伊藤雄一・北村卓也・竹内麻美・佐甲 隆・井上 顕・川崎 澄・勝木信幸・星崎博之・桑原愼一・夏目秀隆・坂尾眞人・谷川高穂（NECエレクトロニクス） ICD2008-4 |
コンシューマエレクトロニクス向け混載DRAM デバイス技術について報告する。我々は150nm 世代より低消費電力かつ高速... [more] | ICD2008-4 pp.19-24 |
| ICD | 2007-04-12 10:40 |
大分 | 大分県・湯布院・七色の風 | MIM(Metal-Insulator-Metal) キャパシタを用いた混載DRAM用デバイステクノロジー ○谷川高穂・山縣保司・白井浩樹・杉村啓世・和気智子・井上 顕・佐甲 隆・坂尾眞人（NECエレクトロニクス） ICD2007-4 |
MIMキャパシタを用いた混載DRAMデバイス技術について報告する。我々は150nm世代よりLowパワーかつ高速アクセス性... [more] | ICD2007-4 pp.17-22 |
| ICD | 2006-04-13 09:45 |
大分 | 大分大学 | リテンション時間延長可能なスリープモードを搭載した65nm低消費電力混載DRAM ○高井智久・永井 健・和田政春・岩井 斎・加来真理子・鈴木 淳・糸賀尚子・宮崎隆行（東芝）・竹中博幸（東芝マイクロエレクトロニクス）・北城岳彦・宮野信治（東芝） |
混載DRAMにおけるデータ保持電力を削減するために、オンチップECC回路とMT-CMOS技術を用いて実現されるリテンショ... [more] | ICD2006-2 pp.7-12 |
| ICD | 2005-04-14 13:00 |
福岡 | 福岡システムLSI 総合開発センター | ［招待講演］デジタル家電向け混載メモリの現状と将来展望 ～ SoCの構造改革に向けたチャレンジ ～ ○山内寛行（松下電器） |
本論文では、デジタル家電向けシステムLSI用の混載メモリを、実例に基づき分類し、それぞれの現状と将来展望を簡単に述べる。... [more] | ICD2005-6 pp.29-34 |
| ICD | 2005-04-15 11:30 |
福岡 | 福岡システムLSI 総合開発センター | 高速大容量混載 DRAM Pre-Fuse Wafer-Level テストのための Burst-Cycle Data圧縮方式 ○福田 良・小林謙二（東芝）・赤松正志・開発 実・田村 淳・谷口一雄（ソニー）・渡辺陽二（東芝） |
高速大容量混載DRAM Pre-Fuse Wafer Level テストのためのBurst-Cycle Data 圧縮方... [more] | ICD2005-15 pp.13-17 |
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