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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
MBE, BioX, NC
(共催)
2016-10-22
10:55
大阪 大阪電気通信大学 膜電位応答イメージングによる皮質内微小電流刺激のパラメータの検討
野本知宏田中雄太林田祐樹八木哲也阪大BioX2016-21 MBE2016-35 NC2016-20
脳神経回路の構造を調べるために,摘出した脳の切片を試料とするin-vitro実験が行われてきた.その際,神経興奮を意図的... [more] BioX2016-21 MBE2016-35 NC2016-20
pp.25-30
CQ
(第二種研究会)
2016-08-28
14:25
茨城 筑波山温泉 Bluetooth LEデバイスの送信電力と消費電力の関係について
武田貫志梅原大祐若杉耕一郎京都工繊大
無線センサネットワーク及びIoT (Internet of Things)機器が広く普及しつつある.
それらの無線セン... [more]

CQ 2016-05-25
16:10
福岡 九州大学 Bluetooth LEの接続状態における消費エネルギーのモデル化
武田貫志梅原大祐若杉耕一郎京都工繊大CQ2016-31
無線センサネットワーク及びIoT (Internet of Things) 機器が広く普及しつつある.
それらの無線セ... [more]
CQ2016-31
pp.107-112
NC, MBE
(共催)
2015-03-16
11:00
東京 玉川大学 皮質内微小電気刺激に対する神経興奮範囲の膜電位イメージング
田中雄太林田祐樹坂田侑弥八木哲也阪大MBE2014-118 NC2014-69
生体神経の組織試料を用いた生理学実験では,対象とする神経回路の機能的構造を調べる際に,組織内に刺入した電極からの細胞外電... [more] MBE2014-118 NC2014-69
pp.13-18
R 2014-11-20
13:45
大阪 大阪中央電気倶楽部 マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測
桃田 快遠藤幸一御堂義博三浦克介中前幸治阪大R2014-61
個別の半導体デバイスの使用経過時間中の特性がモニターできる仮定の下で,得られた特性からデバイスの劣化・寿命を予測する手法... [more] R2014-61
pp.1-5
SDM, ED
(共催)
2013-02-28
11:20
北海道 北海道大学(百年記念会館) ジュール加熱されたグラフェンの近赤外イメージングによるその場温度測定
齋藤孝成厚母息吹須田隆太郎伊藤光樹白樫淳一東京農工大ED2012-142 SDM2012-171
我々は,その場温度観察が可能な近赤外イメージングシステムを利用して,通電下のグラフェンの発熱現象のリアルタイム観察を行っ... [more] ED2012-142 SDM2012-171
pp.77-82
CQ, IE, LOIS, IEE-CMN, ITE-ME
(共催)
2005-09-15
14:00
高知 高知工科大学 アーク放電光の発光面積による漏れ電流推定の可能性
石野隆一本間宏也電中研
ポリマーがいしの長期信頼性評価や劣化メカニズム解明のため,アーク放電時に流れている漏れ電流を手がかりにして,ポリマーがい... [more] CQ2005-43 OIS2005-28 IE2005-36
pp.49-54
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