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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
OME, IEE-DEI
(連催)
2017-07-28
13:50
富山 富山大学 有機半導体分子の塗布製膜における金属化合物基板を用いた配向制御技術の開発
山田彰宏山本晃平金沢大)・Md. ShahiduzzamanInFIniti)・小金澤智之高輝度光科学研究センター)・辛川 誠桑原貴之金沢大/RSET/InFIniti)・高橋光信金沢大/RSET)・當摩哲也金沢大/RSET/InFInitiOME2017-18
有機薄膜太陽電池において、発電層内の分子配向を制御することは光吸収・電荷輸送の点において極めて重要である。チオフェン骨格... [more] OME2017-18
pp.13-16
SDM 2012-10-25
16:10
宮城 東北大学未来研 微小角入射X線回折法を用いたSiO2薄膜中の結晶相の評価
永田晃基山口拓也小椋厚志明大)・小金澤智之廣澤一郎高輝度光科学研究センター)・諏訪智之寺本章伸服部健雄大見忠弘東北大SDM2012-91
SiO2薄膜の構造については、かねてより多角的な研究によりSiO2薄膜中にSi基板の結晶構造を反映した秩序が残留している... [more] SDM2012-91
pp.11-14
SDM 2010-10-22
16:20
宮城 東北大学 原子スケールで平坦なSiO2/Si酸化膜界面歪の評価
服部真季明大)・小瀬村大亮明大/学振)・武井宗久永田晃基赤松弘彬富田基裕水上雄輝橋口裕樹山口拓也小椋厚志明大)・諏訪智之寺本章伸服部健雄大見忠弘東北大)・小金澤智之高輝度光科学研究センターSDM2010-170
原子スケールで平坦なSiO2/Si界面の構造や歪の状態を明らかにするために、ラマン分光法およびin-plane X線回折... [more] SDM2010-170
pp.71-75
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