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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SIP, MI, IE
(共催)
2019-05-23
13:25
愛知 名古屋工業大学 3次元非分離冗長重複変換によるen-face OCTT ボリュームデータ復元
吉田祐太藤井元暉村松正吾崔 森悦新潟大)・小野峻佑東工大)・太田 岳任 書晃日比野 浩新潟大SIP2019-2 IE2019-2 MI2019-2
 [more] SIP2019-2 IE2019-2 MI2019-2
pp.7-12
SIP 2018-08-20
14:25
東京 拓殖大学 文京キャンパス 階層的スパース正則化とハード制約を利用したOCTボリュームデータ復元の実データ検証
藤井元暉村松正吾崔 森悦新潟大)・小野峻佑東工大)・太田 岳任 書晃日比野 浩新潟大SIP2018-58
本稿では,文献[1]において筆者らが提案した光干渉断層撮影(OCT)データのための復元アルゴリズムを実際の観測結果へ適用... [more] SIP2018-58
pp.7-12
PRMU, MI, IE, SIP
(共催)
2018-05-17
15:15
岐阜 岐阜大学 階層的スパース正則化とハード制約を利用したOCTボリュームデータ復元の検討
村松正吾長山知司崔 森悦新潟大)・小野峻佑東工大)・太田 岳任 書晃日比野 浩新潟大SIP2018-3 IE2018-3 PRMU2018-3 MI2018-3
本稿では,光干渉断層撮影(OCT)データのための新たな復元モデルを提案する.OCTは,近赤外レーザーを利用して数$mu$... [more] SIP2018-3 IE2018-3 PRMU2018-3 MI2018-3
pp.7-12
SDM 2011-07-04
09:20
愛知 名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー) SiC(0001)面上エピタキシャルグラフェンの構造と形成
影島博之日比野浩樹山口浩司NTT)・永瀬雅夫徳島大SDM2011-51
SiC(0001)面上のエピタキシャルグラフェンの成長機構について、第一原理計算を用いて検討した。界面グラフェン1層はバ... [more] SDM2011-51
pp.7-10
SDM, ED
(共催)
2009-06-24
14:00
海外 海雲台グランドホテル(釜山、韓国) [招待講演]SiC上グラフェンの物性評価
永瀬雅夫日比野浩樹影島博之山口浩司NTTED2009-61 SDM2009-56
近年、グラフェンはその優れた電気的性質が注目を浴びている。SiC上にエピタキシャル成長が可能である熱成長グラフェンは、従... [more] ED2009-61 SDM2009-56
pp.47-52
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