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研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
ED, SDM (共催)	2008-01-30 14:20	北海道	北海道大学	Dopant ionization in silicon nanodevices investigated by Kelvin Probe Force Microscope ○Maciej Ligowski（Shizuoka Univ./Warsaw Univ. of Tech.）・Ratno Nuryadi・Akihiro Ichiraku・Miftahul Anwar（Shizuoka Univ.）・Ryszard Jablonski（Warsaw Univ. of Tech.）・Michiharu Tabe（Shizuoka Univ.） ED2007-239 SDM2007-250	Dopant ionization was investigated by Kelvin Probe Force Mic... [more]	ED2007-239 SDM2007-250 pp.11-16
ED, SDM (共催)	2007-06-25 13:00	海外	Commodore Hotel Gyeongju Chosun, 慶州，韓国	［招待講演］Si single-electron FETs for single-photon detection ○Michiharu Tabe・Ratno Nuryadi・Zainal Burhanudin（Shizuoka Univ.）	我々は、Ｓｉデバイスのブレークスルーにとって、３つの要素が重要と考えて研究を進めている。すなわち、単電子の転送制御、単一... [more]
SDM, ED (共催)	2007-02-02 13:20	北海道	北海道大学百年記念会館	不規則系多重トンネル接合による単電子転送の時間制御 ○モラルダニエル（静岡大）・小野行徳（NTT）・猪川　洋・横井清人・ラトノヌルヤディ・池田浩也・田部道晴（静岡大）	[more]	ED2006-255 SDM2006-243 pp.83-88
SDM, ED (共催)	2007-02-02 13:40	北海道	北海道大学百年記念会館	Photon irradiation effects on Si multiple-tunnel-junction field-effect transistors -- Sensing the presence of a single-charge in the substrate -- ○Zainal Burhanudin・Ratno Nuryadi・Michiharu Tabe（Shizuoka Univ.）	[more]	ED2006-256 SDM2006-244 pp.89-94
ED, CPM, SDM (共催)	2006-05-19 14:35	愛知	豊橋技術科学大学ＶＢＬ	Light irradiation effect on single-hole-tunneling current of an SOI-FET ○ザイナルブルハヌディン・ラトノヌルヤディ・田部道晴（静岡大）	[more]	ED2006-39 CPM2006-26 SDM2006-39 pp.107-111
ED, CPM, SDM (共催)	2006-05-19 15:00	愛知	豊橋技術科学大学ＶＢＬ	Tunneling current oscillations in Si/SiO2/Si structures ○Daniel Moraru・Daisuke Nagata（Shizuoka Univ.）・Seiji Horiguchi（Akita Univ.）・Ratno Nuryadi・Hiroya Ikeda・Michiharu Tabe（Shizuoka Univ.）	[more]	ED2006-40 CPM2006-27 SDM2006-40 pp.113-117
ED, SDM (共催)	2006-01-26 16:35	北海道	北海道大学百年記念会館大会議室	Si多重ドット構造における単一フォトン誘起ランダム・テレグラフ・シグナル ○ラトノヌルヤディ・石川靖彦・田部道晴（静岡大）	[more]	ED2005-230 SDM2005-242 pp.35-38

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