電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 107, Number 485

機構デバイス

開催日 2008-02-15 / 発行日 2008-02-08

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目次

EMD2007-114
簡易ESD装置の開発とその適用検討 ~ ESD破壊現象の特定 ~
○山崎規雄・真田 克(高知工科大)
pp. 1 - 6

EMD2007-115
無給電光伝送装置の信頼性設計と応用
○鳥羽良和(精工技研)・若井一顕(NHKアイテック)
pp. 7 - 12

EMD2007-116
接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 ~ 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響 ~
○玉井輝雄(三重大)・服部康弘・池田博榮(オートネットワーク技研)
pp. 13 - 18

EMD2007-117
3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振装置試作 ~
○和田真一・天尾裕士・峯岸寛人・越田圭治・園田健人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(慶大)
pp. 19 - 24

EMD2007-118
Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察
○中村真也・山下祐司・齋藤 寧・玉井輝雄・飯田和生(三重大)・服部康弘(オートネットワーク技研)
pp. 25 - 30

EMD2007-119
微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究
○佐藤尚幸・齋藤 寧・玉井輝雄・飯田和生(三重大)・伊藤哲也・服部康弘(オートネットワーク技研)
pp. 31 - 36

EMD2007-120
全反射終端を用いた2波長プッシュプル反射計測方式(DWPR)の高精度化
○小松康俊・井上恵一・斧田誠一(渡辺製作所)・塚本信夫(ディーエスピー技研)
pp. 37 - 42

EMD2007-121
気密封止材料の基礎特性について ~ ガス透過性についての調査 ~
○早瀬哲生・坂本一三(オムロン)
pp. 43 - 46

EMD2007-122
瞬間接着剤を用いた光コネクタの信頼性
○柳 秀一・松井伸介・細野 茂・長瀬 亮(NTT)
pp. 47 - 52

EMD2007-123
[特別講演]ホログラフィとその機構デバイスの信頼性評価への応用
○谷口正成(東北文化学園大)
pp. 53 - 58

今後、次の点を修正する予定です。(1)欠けている表紙画像・奥付画像を補完いたします。(2)欠けている発行日の情報を補完いたします。

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


IEICE / 電子情報通信学会