電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 108, Number 10

機構デバイス

開催日 2008-04-18 / 発行日 2008-04-11

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目次

EMD2008-1
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構のモデリング ~
○和田真一・越田圭治・峯岸寛人・天尾裕士・園田健人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(慶大)
pp. 1 - 6

EMD2008-2
錫(Sn)接触部の接触抵抗特性の特異性について
○玉井輝雄・堀田克則・斎藤 寧(三重大)・服部康弘(オートネットワーク技研)
pp. 7 - 12

EMD2008-3
有機薄膜の電着によるMEMSデバイスのスティッキング防止
○阪田知巳・桑原 啓・佐藤昇男・島村俊重・石井 仁(NTT)・工藤和久・町田克之(NTT-AT)
pp. 13 - 16

EMD2008-4
表面電位顕微鏡による地震防災用リレーにおける接触部の研究
○渡辺克忠・平川裕一(工学院大)
pp. 17 - 22

今後、次の点を修正する予定です。(1)欠けている表紙画像・奥付画像を補完いたします。(2)欠けている発行日の情報を補完いたします。

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


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