電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 109, Number 294

信頼性

開催日 2009-11-20 / 発行日 2009-11-13

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目次

R2009-41
シリコーンによる電気接点の接触信頼性
○森井真喜人・森脇弘之(オムロン)
pp. 1 - 5

R2009-42
ライフ・エンド評価の一考察 ~ ステップ・タイム評価 ~
○伊藤貞則(イトケン事務所)
pp. 7 - 10

R2009-43
高速InP HBTにおけるエミッタ電極の長期通電での劣化現象と高耐熱金属導入による高信頼化
○深井佳乃・栗島賢二・柏尾典秀・井田 実・山幡章司・榎木孝知(NTT)
pp. 11 - 16

R2009-44
複数の観測を考慮した2状態POMDPモデルにおける最適保全方策
○林 憲一・田村信幸・弓削哲史・柳 繁(防衛大)
pp. 17 - 22

R2009-45
ソフトウェア信頼性評価のための環境係数を用いたチェンジポイントモデル
○井上真二・山田 茂(鳥取大)
pp. 23 - 28

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


IEICE / 電子情報通信学会