Online edition: ISSN 2432-6380
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HWS2026-1
暗号半導体チップ裏面シリコン基板電位によるサイドチャネル攻撃に対する解析・評価
○長谷川陸宇（神戸大）・門田和樹・弘原海拓也（セカフィー）・永田 真（神戸大）
pp. 1 - 5
HWS2026-2
故障注入攻撃に対するGPVフレームワークの安全性証明
○髙橋朋伽・宮地充子（阪大）
pp. 6 - 11
HWS2026-3
深層学習を用いたTEMPESTのためのシミュレーションベースデータセット生成法に関する基礎検討
○門内太一・北澤太基・林 優一（奈良先端大）
pp. 12 - 17
HWS2026-4
TEMセルを用いたシールド環境下での放射電磁波計測に基づく受動素子劣化検知の基礎検討
○萩原祥都・新村 奨・藤本大介・林 優一（奈良先端大）
pp. 18 - 22
HWS2026-5
属性ベース暗号のASIC実装最適化及びFPGA最適回路との差異に関する検討
○林 健介・池田 誠（東大）
pp. 23 - 28
HWS2026-6
完全準同型暗号TFHEにおける公開鍵サイズを考慮した多項式乗算アーキテクチャに関する検討
○中川智文・松尾亮祐・池田 誠（東大）
pp. 29 - 34
HWS2026-7
高次マスクML-DSAのサイドチャネル攻撃耐性に関する考察
○坂本純一（産総研）
pp. 35 - 40
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．