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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-01-17 14:30 ［特別招待講演］1mV電圧分解能・5ns時間分解能のオンチップ電源電圧変動モニタリング技術の提案 ○菅野雄介・近藤雄樹（日立）・入田隆宏・廣瀬健志・森 涼・安 義彦（ルネサステクノロジ）・小松成亘・水野弘之（日立）  CPM2007-136 ICD2007-147 |
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| 抄録 | （和） | SoCが動作中の電源ノイズ分布を測定するためのオンチップ電源電圧変動モニタ技術を開発した。本方式は、チップ内のローカルな電圧変動をリングオシレータにより周波数変動信号に変換し、チップ外部の高精度デジタル信号処理によって電圧変動に再度変換することで計測するものである。電圧値の校正にはPCを利用する。本技術により、90nm CMOS プロセスの携帯電話向けSoCの電圧変動を電圧分解能1mV、時間分解能5nsの精度で計測することが可能になった。 |
| （英） | An in-situ measurement scheme for generating supply-noise maps, which can be conducted while running applications in product-level LSIs, was developed. The design of the on-chip voltage sampling probe is based on a simple ring oscillator, which converts local supply difference between VDD and VSS to oscillation-frequency deviation. High measurement accuracy is achieved by off-chip digital signal processing and calibration. This scheme was used to successfully measure 69-mV local supply noise with 5-ns time resolution in a 3G-cellular-phone processor. It will thus help in designing power-supply networks and in visually verifying the quality of a power supply. | |
| キーワード | （和） | 電源ノイズ / オンチップ / 電源電圧変動モニタ技術 / リングオシレータ / 90nm / 携帯電話向けSOC / / |
| （英） | in-situ measurement / supply-noise maps / on-chip voltage sampling probe / ring oscillator / off-chip digital signal processing / calibration / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 425, CPM2007-136, pp. 47-52, 2008年1月. | |
| 資料番号 | CPM2007-136 | |
| 発行日 | 2008-01-10 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPM2007-136 ICD2007-147 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM ICD |
| 開催期間 | 2008-01-17 - 2008-01-18 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | ＬＳＩシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般：特集テーマ 「チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価」（オーガナイザ：須藤俊夫先生（芝浦工業大学 ）） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | CPM |
| 会議コード | 2008-01-CPM-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 1mV電圧分解能・5ns時間分解能のオンチップ電源電圧変動モニタリング技術の提案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | In-situ measurement of supply-noise maps with millivolt accuracy and nanosecond-order time resolution |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源ノイズ / in-situ measurement |
| キーワード(2)（和/英） | オンチップ / supply-noise maps |
| キーワード(3)（和/英） | 電源電圧変動モニタ技術 / on-chip voltage sampling probe |
| キーワード(4)（和/英） | リングオシレータ / ring oscillator |
| キーワード(5)（和/英） | 90nm / off-chip digital signal processing |
| キーワード(6)（和/英） | 携帯電話向けSOC / calibration |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 菅野 雄介 / Yusuke Kanno / カンノ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | （株）日立製作所 中央研究所 (略称： 日立) Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (略称： HCRL) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 近藤 雄樹 / Yuki Kondoh / コンドウ ユウキ |
| 第2著者 所属（和/英） | （株）日立製作所 中央研究所 (略称： 日立) Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (略称： HCRL) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 入田 隆宏 / Takahiro Irita / イリタ タカヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | ルネサス テクノロジ (略称： ルネサステクノロジ) Renesas Technology, Corporation (略称： Renesas Technology, Corp.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 廣瀬 健志 / Kenji Hirose / ヒロセ ケンジ |
| 第4著者 所属（和/英） | ルネサス テクノロジ (略称： ルネサステクノロジ) Renesas Technology, Corporation (略称： Renesas Technology, Corp.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森 涼 / Ryo Mori / モリ リョウ |
| 第5著者 所属（和/英） | ルネサス テクノロジ (略称： ルネサステクノロジ) Renesas Technology, Corporation (略称： Renesas Technology, Corp.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安 義彦 / Yoshihiko Yasu / ヤス ヨシヒコ |
| 第6著者 所属（和/英） | ルネサス テクノロジ (略称： ルネサステクノロジ) Renesas Technology, Corporation (略称： Renesas Technology, Corp.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小松 成亘 / Shigenobu Komatsu / コマツ シゲノブ |
| 第7著者 所属（和/英） | （株）日立製作所 中央研究所 (略称： 日立) Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (略称： HCRL) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 水野 弘之 / Hiroyuki Mizuno / ミズノ ヒロユキ |
| 第8著者 所属（和/英） | （株）日立製作所 中央研究所 (略称： 日立) Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (略称： HCRL) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-01-17 14:30:00 |
| 発表時間 | 40分 |
| 申込先研究会 | CPM |
| 資料番号 | CPM2007-136, ICD2007-147 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.425(CPM), no.426(ICD) |
| ページ範囲 | pp.47-52 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-01-10 (CPM, ICD) |
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