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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-07-17 09:50 45nm世代SRAM向けHfSiOxを用いたしきい値電圧ばらつきの低減 ○筒井 元・角田一晃・刈谷奈由太・秋山 豊・阿部倫久・丸山信也・深瀬 匡・鈴木三惠子・山縣保司・今井清隆（NECエレクトロニクス）  SDM2008-130 ICD2008-40 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 139, SDM2008-130, pp. 11-16, 2008年7月. | |
| 資料番号 | SDM2008-130 | |
| 発行日 | 2008-07-10 (SDM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2008-130 ICD2008-40 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD SDM |
| 開催期間 | 2008-07-17 - 2008-07-18 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2008-07-ICD-SDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 45nm世代SRAM向けHfSiOxを用いたしきい値電圧ばらつきの低減 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Reduction of Vth Variation Utilizing HfSiOx for 45nm SRAM |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
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| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 筒井 元 / Gen Tsutsui / ツツイ ゲン |
| 第1著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 角田 一晃 / Kazuaki Tsunoda / ツノダ カズアキ |
| 第2著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 刈谷 奈由太 / Nayuta Kariya / カリヤ ナユタ |
| 第3著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 秋山 豊 / Yutaka Akiyama / アキヤマ ユタカ |
| 第4著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 阿部 倫久 / Tomohisa Abe / アベ トモヒサ |
| 第5著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 丸山 信也 / Shinya Maruyama / マルヤマ シンヤ |
| 第6著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 深瀬 匡 / Tadashi Fukase / フカセ タダシ |
| 第7著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鈴木 三惠子 / Mieko Suzuki / スズキ ミエコ |
| 第8著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山縣 保司 / Yasushi Yamagata / ヤマガタ ヤスシ |
| 第9著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | 今井 清隆 / Kiyotaka Imai / イマイ キヨタカ |
| 第10著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics Corporation (略称： NECEL) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-07-17 09:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | SDM2008-130, ICD2008-40 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.139(SDM), no.140(ICD) |
| ページ範囲 | pp.11-16 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-07-10 (SDM, ICD) |
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