| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2009-08-10 15:30
直接窒化膜を界面制御層に用いたSiCMIS構造の作製 鈴木真一郎・仙石 昌・辻 拓真・逸見充則・村田裕亮・山上朋彦・林部林平・○上村喜一(信州大) CPM2009-35 |
| 抄録 |
(和) |
MIS型ショットキーダイオードの電流電圧特性から、窒化膜/SiC構造の界面準位密度を概算した。界面準位密度はおよそ$10^{12}$cm$^{-2}$eV$^{-1}$であった。この値は、酸化と熱処理により作製したSiO$_2$/SiC MIS構造で報告されている値に近い。窒化膜上に酸化膜を重ねて堆積したMIS構造についてTerman法で界面準位密度を評価し、比較した結果、ほぼ同程度の値となった。高温で窒化した試料ほど低い界面準位密度が得られた |
| (英) |
Interface state density was estimated from diode factor $n$ of SiC MIS Schottky diode. The interface state density was the order of $10^{12}$cm$^{-2}$eV$^{-1}$, and was same order to the value for the sample carefully prepared by oxidation and post oxidation annealing. The interface state density determined from $n$ was consistent to the value calculated from the capacitance voltage curve of SiO$_2$/nitride/SiC MIS diode by Terman method. High temperature nitridation was effective to reduce the interface state density. |
| キーワード |
(和) |
SiC / 窒化, / 界面 / MISショットキー / / / / |
| (英) |
SiC / Nitride / Interface / MIS Schottky / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 109, no. 171, CPM2009-35, pp. 9-12, 2009年8月. |
| 資料番号 |
CPM2009-35 |
| 発行日 |
2009-08-03 (CPM) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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