| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2013-04-12 09:20
[招待講演]車載向け高速、高信頼性40nm混載SG-MONOSフラッシュマクロの開発 ~ 160MHzランダムアクセス可能コード領域と10M回書き換え可能データ領域の実現 ~ ○小川大也・河野隆司・伊藤 孝・鶴田 環・西山崇之・長澤 勉・川嶋祥之・日高秀人・山内忠昭(ルネサス エレクトロニクス) ICD2013-13 |
| 抄録 |
(和) |
混載フラッシュメモリを備えたマイクロコントローラ(フラッシュMCU)の市場は、1990年代以降、着実に成長している。特に、自動車の分野では、燃料効率や安全性および複雑なリアルタイム制御のために、フラッシュMCUは不可欠になっている。このため混載フラッシュメモリに対しては、大容量かつ超高速ランダム・リード・アクセスが求められている。また、自動車のエンジンルーム内などの高温環境(Tj=170℃)でも正常な書き込み/消去動作を行わなければならない。我々は、40nm世代の混載プロセスを用いてこれらの車載用途に要求される条件を満たしたフラッシュマクロを開発した。 |
| (英) |
The markets of Flash MCUs, microcontrollers with embedded flash memory (eFlash), have been steadily growing since the middle of 1990s. Especially, in automotive, Flash MCUs have become essential to realize higher fuel-efficiency, higher safety, and more convenient operativity by the complicated real-time controls. For this reason, high density and high speed random read access are strongly required for eFlash. In addition, what characterizes the requirements for eFlash in automotive are secured operations and data reliability with the excellent program/erase (P/E) cycling under high temperature. We investigate 40nm Embedded SG-MONOS Flash Macros for Automotive. |
| キーワード |
(和) |
車載向け / 160MHzランダムアクセス / SG-MONOS / / / / / |
| (英) |
for Automotive / 160MHz Random Access / SG-MONOS / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 1, ICD2013-13, pp. 61-66, 2013年4月. |
| 資料番号 |
ICD2013-13 |
| 発行日 |
2013-04-04 (ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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ICD2013-13 |