講演抄録/キーワード |
講演名 |
2015-08-10 13:40
高周波プラズマ化学気相成長法による窒素添加DLC薄膜の膜特性への基板バイアスの影響 ○土屋政人・村上和輝・佐藤達人・高見貴弘・遠田義晴・中澤日出樹(弘前大) CPM2015-32 エレソ技報アーカイブへのリンク: CPM2015-32 |
抄録 |
(和) |
CH4、N2および希釈ガスとしてArを用い、基板バイアスにパルスバイアスを用いたRFプラズマCVD法により、基板パルスバイアスのデューティ比を変化させDLC薄膜およびN添加DLC(N-DLC)薄膜を作製し、構造、電気的特性などを評価した。また、P形Si基板上にN-DLCを成膜することでヘテロ接合を作製し、その電気的特性を評価した。デューティ比を増加させると、sp2炭素のクラスタリングが促進されることがわかった。一方、N-DLCの比抵抗はデューティ比に対してほとんど変化せず、10-2 Ω·cm台の小さな値を示した。また、ヘテロ接合は整流特性を示すことが確認され、電圧±0.5 Vでの整流比は35.9であった。 |
(英) |
We have deposited nitrogen-doped diamond-like carbon (N-DLC) films by RF plasma-enhanced chemical vapor deposition using CH4, N2, and Ar as a dilution gas and substrate pulsed biases with different duty ratios, and investigated the structure and chemical bonding, the surface morphology, and the mechanical and electrical properties of the films. We also prepared N-DLC on P-type silicon substrate to form a hetero junction and characterized its electrical properties. We found that the increase in duty ratio caused clustering of sp2 carbon atoms in the films. On the other hand, the resistivity of the films remained almost unchanged at the order of 10-2 Ω·cm. We confirmed that the hetero junction showed rectifying characteristics, whose rectification ratio was 35.9 at ±0.5 V. |
キーワード |
(和) |
ダイヤモンドライクカーボン / プラズマ化学気相成長法 / 窒素 / 基板パルスバイアス / 太陽電池 / / / |
(英) |
Diamond-like carbon / Plasma-enhanced chemical vapor deposition / Nitrogen / Substrate pulsed bias / Solar cell / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 115, no. 179, CPM2015-32, pp. 7-10, 2015年8月. |
資料番号 |
CPM2015-32 |
発行日 |
2015-08-03 (CPM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
CPM2015-32 エレソ技報アーカイブへのリンク: CPM2015-32 |