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講演抄録/キーワード
講演名 2021-03-03 11:45
スピンコート法を利用したフレキシブル基板上への磁性ガーネット粒子の成膜と特性調査
舩木佑也橋本良介板谷年也加藤寛喜鈴鹿高専)・水戸慎一郎東京高専)・内田裕久豊橋技科大CPM2020-65 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2020-65
抄録 (和) 磁気光学(Magneto-optical:MO)イメージングは,高分解能な非破壊検査の手法として注目されている.本研究室では,検査対象の曲面に対応可能なMOイメージング用フレキシブルMOセンサの開発を行っている.MOセンサは,スピンコート法を用いて,フレキシブル基板上に磁性体膜を成膜し,作製している.磁性材料として,イットリウム鉄ガーネット(Bi:YIG)を用いて作製していたが,MOイメージングに必要なMOセンサの光透過率を得られていなかった.そのため,材料をイットリウムアルミガーネット(YAG)に変更し,透過率の改善に成功した.しかし,YAGは,常磁性体でありイメージングを行えないため,YAGにFeをドープした材料に変更した.本研究では,作製したMOセンサの特性を調査した. 
(英) Non distractive inspections are carried out around us. We focused on Magnet-optical(MO) imaging as a method of the inspections for microcracks. MO imaging is carried out with a MO sensor located on the inspection target. MO sensors are fabricated with spin coat method. Bismuth substituted yttrium iron garnet(Bi:YIG) was used for MO sensor. But light transmittance was 0%. We changed magnetic materials from Bi:YIG to yttrium aluminum garnet(YAG) to improve the transmittance. And the transmittance was got from MO sensors fabricated with YAG. Aluminum and iron composite material was used to get the figures of MO imaging.
キーワード (和) 磁気光学イメージング / スピンコート / 磁性ガーネット / 非破壊検査 / / / /  
(英) Magnet-optical imaging / Spin-Coating / Magnetic Garnet / Non-distractive inspections / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 120, no. 408, CPM2020-65, pp. 38-41, 2021年3月.
資料番号 CPM2020-65 
発行日 2021-02-24 (CPM) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2020-65 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2020-65

研究会情報
研究会 CPM  
開催期間 2021-03-03 - 2021-03-03 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) 若手ミーティング 電子部品材料、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPM 
会議コード 2021-03-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) スピンコート法を利用したフレキシブル基板上への磁性ガーネット粒子の成膜と特性調査 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Characterization of magnetic garnet particles deposited on flexible substrates by using spin coating process 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 磁気光学イメージング / Magnet-optical imaging  
キーワード(2)(和/英) スピンコート / Spin-Coating  
キーワード(3)(和/英) 磁性ガーネット / Magnetic Garnet  
キーワード(4)(和/英) 非破壊検査 / Non-distractive inspections  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 舩木 佑也 / Yuya Funaki / フナキ ユウヤ
第1著者 所属(和/英) 鈴鹿工業高等専門学校 (略称: 鈴鹿高専)
National Institute of Technology, Suzuka College (略称: NITS)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋本 良介 / Ryosuke Hashimoto / ハシモト リョウスケ
第2著者 所属(和/英) 鈴鹿工業高等専門学校 (略称: 鈴鹿高専)
National Institute of Technology, Suzuka College (略称: NITS)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 板谷 年也 / Toshiya Itaya / イタヤ トシヤ
第3著者 所属(和/英) 鈴鹿工業高等専門学校 (略称: 鈴鹿高専)
National Institute of Technology, Suzuka College (略称: NITS)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 寛喜 / Hiroki Kato / カトウ ヒロキ
第4著者 所属(和/英) 鈴鹿工業高等専門学校 (略称: 鈴鹿高専)
National Institute of Technology, Suzuka College (略称: NITS)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 水戸 慎一郎 / Shinichiro Mito / ミト シンイチロウ
第5著者 所属(和/英) 東京工業高等専門学校 (略称: 東京高専)
National Institute of Technology, Tokyo College (略称: NITT)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 内田 裕久 / Hironaga Uchida / ウチダ ヒロナガ
第6著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: TUT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2021-03-03 11:45:00 
発表時間 15分 
申込先研究会 CPM 
資料番号 CPM2020-65 
巻番号(vol) vol.120 
号番号(no) no.408 
ページ範囲 pp.38-41 
ページ数
発行日 2021-02-24 (CPM) 


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