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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2022-03-01 14:20 信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究 ○星野 龍・宇都宮大喜・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大）  DC2021-73 |
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| 抄録 | （和） | 近年，LSIの高速化・微細化が進み, LSIが故障しているかどうかを判断するLSIのテストが困難になっている．LSIテスト時は，通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増加し，素子への供給電圧が一時的に大きく低下するIR-dropが発生する．過度なIR-dropが発生すると，過度な信号値遷移の遅延が発生し，通常動作では問題のない回路でも不良品と判断されてしまう誤テストが発生する恐れがある．そのため，誤テストリスクを軽減するためにはLSIテストを行う前に過度なIR-drop発生を回避する技術を適用させておく必要がある．過度なIR-dropは回路全体に発生するのではなく，信号値遷移が密集しているエリアで発生する．よって，誤テストの原因となる過度なIR-dropを効率的に削減するためには，信号値遷移が密集するエリアをLSIの設計時に特定し対処することが重要である．本稿では，LSI設計データの論理ゲートの組合せに対する信号値遷移確率に着目することで，信号値遷移が密集しているエリアを特定する手法の効果と、その計算処理時間について評価する． |
| （英） | In recent years, as the high speed and miniaturization of LSIs have improved, it has become more difficult to test LSIs．During LSI testing, the power consumption increases due to more switching activities than in normal operation, and then excessive IR-drop occurs. When excessive IR-drop occurs, excessive delays which may lead to test malfunction even if circuits with no problems in normal operation Therefore, in order to avoid test malfunction, it is necessary to apply appropriate techniques before LSI testing is conducted. Excessive IR-drop does not occur in the entire circuit, but in areas where switching activities are densely concentrated．Therefore, in order to effectively reduce excessive IR-drops, it is important to locate areas where switching activity densely occurs．In this paper, we present the method to locate areas where many switching activities occur with switching probabilities of logic gates, and then we evaluate its effectiveness and efficiency. | |
| キーワード | （和） | 実速度テスト / テスト時の消費電力 / 遷移遅延故障テスト / IR-drop / 誤テスト / / / |
| （英） | At-speed testing / test power / transition delay test / IR-drop / test malfunction / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 121, no. 388, DC2021-73, pp. 51-56, 2022年3月. | |
| 資料番号 | DC2021-73 | |
| 発行日 | 2022-02-22 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2021-73 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2022-03-01 - 2022-03-01 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2022-03-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Efficiency for a Method to Locate High Power Consumption with Switching Provability |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度テスト / At-speed testing |
| キーワード(2)（和/英） | テスト時の消費電力 / test power |
| キーワード(3)（和/英） | 遷移遅延故障テスト / transition delay test |
| キーワード(4)（和/英） | IR-drop / IR-drop |
| キーワード(5)（和/英） | 誤テスト / test malfunction |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 星野 龍 / Ryu Hoshino / ホシノ リュウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宇都宮 大喜 / Taiki Utsunomiya / ウツノミヤ タイキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2022-03-01 14:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2021-73 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | no.388 |
| ページ範囲 | pp.51-56 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-02-22 (DC) |
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