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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-06-09 16:20 暗号機器の故障発生頻度を用いた妨害波の伝達効率推定法に関する基礎検討 ○西山 輝・藤本大介・林 優一（奈良先端大）  EMCJ2023-28 |
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| 抄録 | （和） | 暗号機器に対する妨害波を用いた故障注入手法は、機器への物理的な接近や改変を必要とせず、攻撃の痕跡を残さないため強力な攻撃法の1つとなっている。一方、妨害波を用いた場合、他のモジュールには故障を発生させることなく、暗号モジュールのみに伝達効率が高い妨害波を用いて故障を引き起こす必要がある。本稿では、こうした周波数を暗号モジュールの故障時に出力される誤り暗号文を用いて非侵襲に推定する手法を提案する。具体的には、暗号モジュールの故障時に出力される誤り暗号文の発生頻度が、到達した妨害波の強度に依存することに着目し、各周波数における妨害波の暗号モジュールへの伝達効率を推定する。評価基板を用いた実験の結果、提案手法により推定した伝達効率と、スペクトラムアナライザを用いて評価基板上の観測用ポートを介して実測した伝達効率が良好に一致することを確認した。 |
| （英） | Fault injection attacks using intentional electromagnetic interference (IEMI) against cryptographic devices have become a powerful attack method due to their ability to operate without requiring physical proximity or alterations to the target device and leaving no trace of the attack. However, under IEMI, it is necessary to induce a fault in the cryptographic module using injection frequencies with high transmission efficiency without causing faults in other modules. This paper proposes a method to estimate such frequencies non-invasively from faulty cipher texts outputted when the cryptographic module fails. Specifically, we focus on the fault occurrence rate of cryptographic module depending on the intensity of the injection wave that has reached it, and we estimate the transmission efficiency of the injection wave to the cryptographic module at each injection frequency. Experimental results using an evaluation board confirmed a good agreement between the transmission efficiency of injection wave estimated by the proposed method and the transmission efficiency measured through an observation port on the evaluation board using a spectrum analyzer. | |
| キーワード | （和） | 意図的な電磁妨害 / 故障利用攻撃 / / / / / / |
| （英） | Intentional electromagnetic interference / fault injection attacks / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 72, EMCJ2023-28, pp. 82-86, 2023年6月. | |
| 資料番号 | EMCJ2023-28 | |
| 発行日 | 2023-06-02 (EMCJ) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2023-28 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2023-06-09 - 2023-06-09 |
| 開催地（和） | 小樽経済センター |
| 開催地（英） | Otaru Chamber of Commerce & Industry |
| テーマ（和） | EMC一般 |
| テーマ（英） | EMC |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2023-06-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 暗号機器の故障発生頻度を用いた妨害波の伝達効率推定法に関する基礎検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Estimating Transmission Efficiency of Intentional Electromagnetic Interference Using Fault Occurrence Rate from Cryptographic Devices |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 意図的な電磁妨害 / Intentional electromagnetic interference |
| キーワード(2)（和/英） | 故障利用攻撃 / fault injection attacks |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西山 輝 / Hikaru Nishiyama / ニシヤマ ヒカル |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-06-09 16:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2023-28 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.72 |
| ページ範囲 | pp.82-86 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2023-06-02 (EMCJ) |
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