講演抄録/キーワード |
講演名 |
2023-08-01 09:45
3°オフ角Si(110)基板上へのSiC/AlN多層構造の作製およびグラフェンの形成 ○齋藤遼佑・奈良友奎・葛西大希・郡山春人・遠田義晴・中澤日出樹(弘前大) CPM2023-19 |
抄録 |
(和) |
3 ̊オフ角Si(110)基板上にパルスレーザーアブレーション(PLD)法によりAlN薄膜を作製し、AlN上にモノメチルシラン(MMS)を用いた低圧化学気相成長法により SiC バッファ層を形成し、その上にPLD法によりSiC薄膜を作製した。SiC薄膜の結晶性および平坦性を改善するために、SiCバッファ層の形成温度とMMS圧力の最適化を行った。更に、真空中で高温アニールすることでSiC上にグラフェンを形成した。X線光電子分光法およびラマン分光法を用いてグラフェンの結晶性および層数を調べた。1200 ̊C で30分間アニールを行うことにより、4~5層のグラフェンが形成されることがわかった。また、本研究で得られた最適条件によって形成したSiCバッファ層を用いることで、グラフェンの成長速度はこれまでのSi(110)基板上に比べて十分高いことがわかった。 |
(英) |
We have grown aluminum nitride (AlN) films on 3 ̊off-axis Si(110) substrates by pulsed laser deposition (PLD) and formed SiC low-temperature buffer layers on the AlN layers by ultralow pressure chemical vapor deposition using monomethylsilane (MMS; CH3SiH3) to grow SiC films on the buffer layers by PLD. We optimized the substrate temperature and MMS pressure for formation of the buffer layers to improve the crystallinity and surface roughness of the SiC films. Furthermore, graphene was formed on the SiC films on the buffer layers formed under the optimized conditions by high- temperature annealing in vacuum. X-ray photoelectron spectroscopy and Raman spectroscopy were used to evaluate the crystallinity and determine the number of layers of graphene. Annealing at 1200 ̊C for 30 min resulted in the formation of 4-5 layers of graphene. It was found that employing the SiC buffer layer formed under the optimized conditions increased the growth rate of graphene, which was much higher than those of graphene on Si(110) substrates. |
キーワード |
(和) |
グラフェン / 炭化ケイ素 / 窒化アルミニウム / レーザーアブレーション / ヘテロエピタキシ / / / |
(英) |
Graphene / Silicon carbide / Aluminum nitride / Pulsed laser deposition / Heteroepitaxy / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 123, no. 142, CPM2023-19, pp. 29-32, 2023年7月. |
資料番号 |
CPM2023-19 |
発行日 |
2023-07-24 (CPM) |
ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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CPM2023-19 |