| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2024-01-25 15:55
ダイヤモンド放熱基板を用いたGaN HEMTの開発 ○白柳裕介(三菱電機/熊本大)・友久伸吾(三菱電機)・笠村啓司・豊田洋輝(熊本大)・松前貴司・倉島優一・高木秀樹(産総研)・久保田章亀(熊本大)・長永隆志(三菱電機) ED2023-69 MW2023-161 |
| 抄録 |
(和) |
常温活性化接合法を用いて,1インチ級モザイクダイヤモンド基板上に窒化ガリウム高電子移動度トランジスタ(GaN HEMT)を作製することに成功した.その中で,GaN HEMTのN面及びモザイクダイヤモンド基板に対し,超高精度の平滑面(Sa:0.3nm以下)を創出し,極薄の接合層を介して95%以上の領域で接合されていた.電気特性評価結果においては,ダイヤモンド基板上HEMTの安定的な正常動作を確認するとともに,Si基板上HEMT素子で見られる高ドレイン電圧でのドレイン電流の低下が抑制されていることが確認された.また,二次元温度マッピング評価によりHEMT動作中の表面温度測定を行った結果,作製したダイヤモンド基板上HEMTの表面温度は,同一動作条件下でのSi基板上HEMT及びSiC基板上HEMTの表面温度と比較して大幅に低下し,ダイヤモンド基板による放熱性能向上効果が実証された. |
| (英) |
1-inch size GaN-on-Diamond high electron mobility transistors (GoD HEMTs) has been successfully fabricated using surface-activated room-temperature bonding of a substrate where GaN HEMTs are formed on mosaic diamond substrate. The bonding area of over 95% is achieved due to the limited surface average roughness of less than 0.3nm for both bonding substrate surfaces. The drain current (Id) - drain voltage (Vd) characteristics indicates that GaN HEMTs have been transferred on the diamond substrate without any negative effects of the bonding step. The 2D-temperature mapping results demonstrate drastic suppression of temperature rising during transistor-operation due to the effective heat dissipation through the mosaic diamond substrate. |
| キーワード |
(和) |
GaN / HEMT / ダイヤモンド / 接合 / 研磨 / GaN-on-Diamond / / |
| (英) |
GaN / HEMT / Diamond / Bonding / Polishing / GaN-on-Diamond / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 123, no. 365, ED2023-69, pp. 15-18, 2024年1月. |
| 資料番号 |
ED2023-69 |
| 発行日 |
2024-01-18 (ED, MW) |
| ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
ED2023-69 MW2023-161 |