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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2009年度)
「from:2009-06-19 to:2009-06-19」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2009-06-19 10:20 |
東京 | 機械振興会館 | テスト容易な並列プレフィックス加算器の設計手法 ○鈴木秀俊・高木直史（名大）  DC2009-10 |
並列プレフィックス加算器をテスト容易化する設計手法を提案する．並列プレフィクス加算器は，最下位から各桁までの桁上げ生成条... [more] | DC2009-10 pp.1-6 |
| DC | 2009-06-19 10:45 |
東京 | 機械振興会館 | SoC向けMBISTにおける歩留りと面積のトレードオフに関する一考察 ○新井雅之・遠藤辰朗・岩崎一彦（首都大東京）・中尾教伸・鈴木 巌（ルネサステクノロジ） DC2009-11 |
本研究では，メモリBIST回路の面積削減手法，および歩留りと面積を考慮したSRAMへの冗長割り当てアルゴリズムの有効性に... [more] | DC2009-11 pp.7-12 |
| DC | 2009-06-19 11:10 |
東京 | 機械振興会館 | 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察 ○出水伸和・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2009-12 |
回路に故障が存在しても出力に重大な影響を与えない故障を許容故障という． 許容故障を考慮した16値論理に基づく閾値テスト... [more] |
DC2009-12 pp.13-18 |
| DC | 2009-06-19 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 樋上喜信・○黒瀬洋介・大野智志・山岡弘典・高橋 寛（愛媛大）・清水良浩・相京 隆（半導体理工学研究センター）・高松雄三（愛媛大） DC2009-13 |
半導体デバイスの微細化・高速化に伴い，タイミング不良である遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている．故障診断結果... [more] | DC2009-13 pp.19-24 |
| DC | 2009-06-19 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］High-level Design for Test Tools & Industrial Design Flows ○Chouki Aktouf（DeFacTo） DC2009-14 |
[more] | DC2009-14 pp.25-28 |
| DC | 2009-06-19 14:45 |
東京 | 機械振興会館 | 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト ○埜田健治・伊藤秀昭・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） DC2009-15 |
低電力設計の進展とともに，テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している．過剰な電力消費やIRドロップによるテス... [more] | DC2009-15 pp.29-30 |
| DC | 2009-06-19 15:10 |
東京 | 機械振興会館 | 高機能FFによる微小遅延故障検出技術の小面積化手法 ○野口宏一朗・野瀬浩一（NEC）・尾野年信（NECエレクトロニクス）・水野正之（NEC） DC2009-16 |
[more] | DC2009-16 pp.31-34 |
| DC | 2009-06-19 15:35 |
東京 | 機械振興会館 | システマティック故障を検出するための故障診断技術と事例 ○山元廣志・和田弘樹・小串 亨・中尾教伸（ルネサステクノロジ） DC2009-17 |
半導体製造プロセスの微細化や複雑化に伴い，故障モードが多様となっており，製品の歩留り向上・品質確保のためには，その製品で... [more] | DC2009-17 p.35 |
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