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信頼性研究会 (R) (検索条件: 2011年度)
「from:2011-05-13 to:2011-05-13」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| R | 2011-05-13 13:30 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | ［招待講演］レーザSQUID顕微鏡，レーザテラヘルツ放射顕微鏡，関連シミュレーションの統合的／選択的利用 ～ 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 ～ ○二川 清（阪大）・山下将嗣（理研）・松本 徹（浜松ホトニクス）・三浦克介・御堂義博・中前幸治（阪大）  R2011-8 |
[more] | R2011-8 pp.1-6 |
| R | 2011-05-13 14:10 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | 走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのVth分布観察 ○本田耕一郎（富士通研）・長 康雄（東北大） R2011-9 |
[more] | R2011-9 pp.7-12 |
| R | 2011-05-13 14:35 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | XRDを用いたカーボンナノチューブ構造体の結晶構造解析法 ○古田 寛（高知工科大） R2011-10 |
カーボンナノチューブ構造体は、その高い電流密度耐性、熱伝導性などにより、LSIビア配線をはじめとする電気材料として注目さ... [more] | R2011-10 pp.13-17 |
| R | 2011-05-13 15:00 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | 酸化亜鉛薄膜トランジスタ(ZnO TFT)のバイアスストレス劣化メカニズム ○古田 守・平松孝浩・松田時宜・平尾 孝（高知工科大）・鎌田雄大・藤田静雄（京大） R2011-11 |
[more] | R2011-11 pp.19-22 |
| R | 2011-05-13 15:45 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | ［招待講演］レーザ励起による準静電界を用いた故障解析手法 ○伊藤誠吾・滝口清昭（東大） R2011-12 |
電界は放射電界(Radiation Field)と誘導電界(Induction Field)、それと準静電界(QEF:Q... [more] | R2011-12 pp.23-28 |
| R | 2011-05-13 16:25 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | 量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価 ○三浦克介・野津孝行・中前幸治（阪大） R2011-13 |
MOSデバイスの微細化が物理的限界に近付いており、新たな論理回路実装技術が模索されている。その一つとして、量子ドットセル... [more] | R2011-13 pp.29-34 |
| R | 2011-05-13 16:50 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | 半導体製造工場における歩留解析システムの紹介 ○姫野伸吾（東芝） |
[more] | |
| R | 2011-05-13 17:15 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定 ○岸 和敬・眞田 克（高知工科大） R2011-14 |
診断精度の向上した,簡易で,高速処理可能な故障診断のソフトウェアを開発している.方式はレイ アウトから特定した故障候補を... [more] | R2011-14 pp.35-40 |
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