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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 安里 彰 (富士通)
副委員長 土肥 正 (広島大)
幹事 田村 信幸 (法政大)， 井上 真二 (関西大)
幹事補佐 岡村 寛之 (広島大)， 横川 慎二 (電通大)

日時 2020年11月30日(月)　13:00 - 16:10
議題 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 
会場名 オンライン開催 
会場世話人
連絡先		 井上真二
072-690-2453
他の共催 ◆日本信頼性学会，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催
お知らせ ◎聴講参加をご希望の方（登壇者の方以外）は所定の聴講参加費をお支払いの上，開催の3日前までに幹事（関西大学 井上真二・ino at kansai-u.ac.jp）宛に【お名前】，【ご所属】【種別：一般(会員) or 一般(非会員) or 学生(会員) or 学生(非会員)】をご連絡下さい．
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
参加費に
ついて		 この開催は「技報完全電子化」研究会です．参加費（R研究会）についてはこちらをご覧ください．

11月30日(月) 午後 
13:00 - 16:10
(1) 13:00-13:25 Birnbaum重要度と最適配置の必要条件に基づいたACOによるLinear-Consecutive-k-out-of-n:Fシステムの最適配置探索アルゴリズム R2020-23 ○本間一新・山本久志（都立大）・中村太信（東海大）
(2) 13:25-13:50 On Software Safety Integrity Assessment for E/E/PE Safety-Related Systems R2020-24 ○Shinji Inoue（Kansai Univ.）・Takaji Fujiwara（SRATECH Lab. Inc.）・Shigeru Yamada（Tottori Univ.）
(3) 13:50-14:15 寿命分布の区間推定手順の考察 ～ Rで発生させたワイブル分布の乱数の分析 ～ R2020-25 ○松岡敏成（三菱電機）
  14:15-14:30 休憩　（ 15分 ）
(4) 14:30-14:55 温度サイクル試験／熱衝撃試験の比較による効果検証 R2020-26 ○齋藤結莉・松隈　修・青木雄一（エスペック）
(5) 14:55-15:20 電位コントラスト法を用いた積層セラミックコンデンサの劣化解析 R2020-27 ○斎藤　彰（村田製作所）
(6) 15:20-15:45 劣化進行の信頼性予測に関する確率モデリングとフィルタリング R2020-28 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）
(7) 15:45-16:10 湿度加速試験一考察（その３） R2020-29 ○伊藤貞則（イトケン事務所）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 井上 真二（関西大）
E--mail: ini-u 


Last modified: 2020-10-02 18:08:58


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