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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 弓削 哲史 (防衛大)
副委員長 安里 彰 (富士通)
幹事 田村 信幸 (法政大)， 平栗 滋人 (鉄道総研)
幹事補佐 井上 真二 (関西大)， 岡村 寛之 (広島大)

日時 2017年11月16日(木)　14:00 - 16:45
議題 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 
会場名 大阪中央電気倶楽部 
住所 〒530-0004 大阪市北区堂島浜2-1-25
交通案内 大阪駅より徒歩１２分，JR北新地駅より７分，地下鉄四つ橋線西梅田駅より６分ほか
http://www.chuodenki-club.or.jp/
会場世話人
連絡先		 柳井健太郎（オムロン（株））
06-6345-6351（会場）
他の共催 ◆日本信頼性学会関西支部，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

11月16日(木) 午後 
14:00 - 16:45
(1) 14:00-14:25 湿度加速試験一考察 R2017-50 ○伊藤貞則（イトケン事務所）
(2) 14:25-14:50 結露サイクル試験を用いたAgのエレクトロケミカルマイグレーションの評価 R2017-51 ○仙波孝彬・石津勝之・藤澤孝文（村田製作所）
(3) 14:50-15:15 ステップストレス試験結果に基づく加速モデルの選択 R2017-52 ○松岡敏成（三菱電機）
  15:15-15:30 休憩　（ 15分 ）
(4) 15:30-15:55 HALTにおけるストレスの効果 R2017-53 ○ピエ ラファエル・平田拓哉・河合秀己・青木雄一（エスペック）
(5) 15:55-16:20 複合パワーサイクル試験による製品の弱点早期検出 R2017-54 ○石津勝之・西川弘晃（村田製作所）
(6) 16:20-16:45 劣化データに基づくベイズ信頼性解析 R2017-55 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 岡村 寛之（広島大）
E--mail: l-u 


Last modified: 2017-09-20 16:29:46


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