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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC)  (検索条件: 2020年度)

「from:2021-02-05 to:2021-02-05」による検索結果

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講演検索結果
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2021-02-05
10:30
ONLINE オンライン開催 FPGAの配線遅延の影響を考慮した製造ばらつき測定方法の検討
堤 信吾三浦幸也都立大DC2020-69
FPGAとはユーザが任意の論理機能を実装できるLSIである.FPGAにおいても製造ばらつきが問題になってきており,これを... [more] DC2020-69
pp.1-6
DC 2021-02-05
10:55
ONLINE オンライン開催 ランダムばらつきを考慮した電力サイドチャネルの学習によるハードウェアトロイ回路の検出手法
井上美智子Riaz-Ul-Haque Mian奈良先端大DC2020-70
サプライチェーンのグローバル化,複雑化により半導体集積回路へのハードウェアトロイ回路の混入が懸念されてる.
本稿では,... [more]
DC2020-70
pp.7-11
DC 2021-02-05
11:35
ONLINE オンライン開催 A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design
Ruijun MaStefan HolstXiaoqing WenKIT)・Aibin YanAHU)・Hui XuAUSTDC2020-71
 [more] DC2020-71
pp.12-17
DC 2021-02-05
12:00
ONLINE オンライン開催 メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究
高藤大輝星野 龍宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大DC2020-72
 [more] DC2020-72
pp.18-23
DC 2021-02-05
12:25
ONLINE オンライン開催 CNNによるLSIレイアウト画像分類におけるデータ拡張手法の検討
村川 魁永村美一都立大)・○新井雅之日大)・福本 聡都立大DC2020-73
 [more] DC2020-73
pp.24-29
DC 2021-02-05
14:00
ONLINE オンライン開催 RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2020-74
近年,大規模集積回路のテストコスト増大伴い,テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている.従来手法ではコ... [more] DC2020-74
pp.30-35
DC 2021-02-05
14:25
ONLINE オンライン開催 マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法
中岡典弘王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2020-75
 [more] DC2020-75
pp.36-41
DC 2021-02-05
14:50
ONLINE オンライン開催 テスト容易化機能的時間展開モデルの情報を用いたテスト生成法
中村健太石山悠太細川利典日大DC2020-76
 [more] DC2020-76
pp.42-47
DC 2021-02-05
15:30
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2020-77
VLSI の経年劣化による障害を回避する手段の一つとして,機能動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するフィールドテス... [more] DC2020-77
pp.48-53
DC 2021-02-05
15:55
ONLINE オンライン開催 CANバス上の単一ビットエラーによるオーバヘッドの考察
佐藤諒平・○北林友樹福本 聡都立大DC2020-78
 [more] DC2020-78
pp.54-58
DC 2021-02-05
16:20
ONLINE オンライン開催 相互依存システムにおける耐性強化問題の高速化
南出大智土屋達弘阪大DC2020-79
 [more] DC2020-79
pp.59-63
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