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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| QIT (第二種研究会) |
2023-05-30 14:15 |
京都 | 京都大学 桂キャンパス | Pauli積集合による量子位相推定回路の効率化 ○小泉勇樹（東大）・鈴木泰成・徳永裕己（NTT） |
量子化学や物性物理のHamiltonianの固有エネルギーを量子位相推定で求めるタスクは、誤り耐性量子計算(FTQC)で... [more] | |
| DC | 2022-12-16 13:50 |
山口 | 旧大阪商船「海峡ロマンホール」 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ストカスティック演算を用いたニューラルネットワークの耐故障性能評価 ○永島遼河・ステファン ホルスト・温 暁青（九工大）  DC2022-74 |
近年では、ニューラルネットワークの複雑化と素子の大規模化が進んでいる。それに伴い、回路面積の増大と消費電力の増大といった... [more] | DC2022-74 pp.12-16 |
| DC, CPSY (併催) |
2013-08-01 18:00 |
福岡 | 北九州国際会議場 | レジスタ多重化による耐過渡故障高信頼プロセッサの評価 ○緑川直樹・小山善史（首都大東京）・新井雅之（日大）・福本 聡（首都大東京） DC2013-20 |
近年，様々なアーキテクチャを前提に過渡故障に対するプロセッサの高信頼設計手法が提案されている．本研究では，そのような過渡... [more] | DC2013-20 pp.21-25 |
| DC | 2012-12-14 14:45 |
福井 | アオッサ(福井) | CANプロトコルによる車載LANにおける高電磁ノイズ下での耐故障性 ○根岸正彦・サイサナソンカム アロムハック・新井雅之・大原 衛・福本 聡（首都大東京） DC2012-75 |
本研究では， 高電磁環境下における車載ネットワークの耐故障技術について考察する． はじめに， 対象となる CAN ... [more] |
DC2012-75 pp.11-15 |
| RECONF | 2012-05-29 16:00 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | FPGA配線部のハードエラー検出および再構成による回避手法 ○西谷祐樹・井上万輝・尼崎太樹・久我守弘・飯田全広・末吉敏則（熊本大） RECONF2012-13 |
FPGA は物理故障（ハードエラー）が発生しても他の領域に回路を再構成することで継続使用が可能である．しかし，故障のない... [more] | RECONF2012-13 pp.71-76 |
| CPSY, DC (共催) |
2012-04-10 13:00 |
東京 | 東京工業大学 | 組込み自己テストによって高電磁環境下の周期的過渡故障を回避するプロセッサ ○根岸正彦・サイサナソンカム アロムハック・新井雅之・福本 聡（首都大東京） CPSY2012-1 DC2012-1 |
本研究では，著者らの研究グループが提案する，高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の適用例を報告する．より... [more] | CPSY2012-1 DC2012-1 pp.1-6 |
| DC, CPSY (共催) |
2011-04-12 13:00 |
東京 | 首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス | 同時多重に発生する過渡故障に耐性を持つ順序回路の提案と評価 福本 聡・○今井健太・小日向秀雄・新井雅之（首都大東京） CPSY2011-1 DC2011-1 |
著者らの研究グループが提案したレジスタ二重化による順序回路高信頼化手法の拡張について検討する．レジスタの三重化によって，... [more] | CPSY2011-1 DC2011-1 pp.1-4 |
| DC, CPSY (共催) |
2011-04-12 15:45 |
東京 | 首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス | 過渡故障耐性を持つOut-of-Orderスーパスカラ・プロセッサ ○有馬 慧・岡田崇志（東大）・塩谷亮太（東大/学振）・五島正裕・坂井修一（東大） CPSY2011-5 DC2011-5 |
半導体プロセスが微細化するにつれて，ばらつきの問題が深刻化してきている．今後の半導体産業の発展には，ばらつきを吸収する回... [more] | CPSY2011-5 DC2011-5 pp.23-28 |
| CPSY, DC (併催) |
2009-08-04 - 2009-08-05 |
宮城 | フォレスト仙台 | Network-on-Chipにおけるエラー検出・訂正方式に関する研究 ○小島 悠（慶大）・松谷宏紀（東大）・鯉渕道紘（NII）・天野英晴（慶大） CPSY2009-24 |
本研究ではエラー耐性技術を用いることでエラー率を抑えつつ電圧を落とす Network-on-Chip (NoC)の低消費... [more] | CPSY2009-24 pp.85-90 |
| NLP | 2009-08-03 10:20 |
高知 | ヨンデンプラザ中村(高知県中村市） | イジングスピングラスを用いた低信頼性ナノスケール論理回路の誤り訂正 ○岡田康宏・藤坂尚登・神尾武司・安 昌俊・生岩量久（広島市大） NLP2009-45 |
デバイスの欠損による恒久的誤りとデバイスの誤動作に対 して誤り訂正機能を持たせるため、イジングモデルを組み 入れた論... [more] |
NLP2009-45 pp.7-12 |
| DC | 2008-12-12 13:50 |
山口 | サンライフ萩 | 耐故障プロセッサ評価モデルの解析について ○福本 聡・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） DC2008-61 |
本稿では，著者らの提案した，耐故障プロセッサの性能を解析的に評価するための確率モデルに関する追加的な議論をおこなう．はじ... [more] | DC2008-61 pp.11-13 |
| DC | 2008-10-20 14:20 |
東京 | 学術総合センター | 耐故障プロセッサの信頼性・性能評価手法に関する一考察 ○福本 聡・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） DC2008-24 |
近年，半導体に発生する過渡故障などの影響を排除するため，さまざまな構成や方式の耐故障プロセッサが研究・提案されている．本... [more] | DC2008-24 pp.13-16 |
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