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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SS, MSS (共催) |
2018-01-18 15:45 |
広島 | 広島市立大学サテライトキャンパス | 組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する調査 ○稲元 勉・樋上喜信（愛媛大）  MSS2017-57 SS2017-44 |
本稿では，組合せ回路の故障検出用テストパターン集合の故障検出率向上を目的とし，そのために計算機代数システムを利用する試み... [more] | MSS2017-57 SS2017-44 pp.59-64 |
| VLD | 2011-09-27 10:45 |
福島 | 会津大学 産学イノベーションセンター(UBIC) 3Dシアター | 組み合わせ回路のソフトエラー耐性評価における近似手法の統計科学的な精度評価 ○綾部秀紀・吉村正義・松永裕介（九大） VLD2011-49 |
組み合わせ回路のソフトエラー耐性評価手法の一つにサンプリングを用いた近似手法がある．この近似手法において要求する近似値の... [more] | VLD2011-49 pp.49-54 |
| SDM | 2010-11-12 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | インバータセルにおけるSingle-Event-Transientパルス発生のモデリング ○田中克彦・中村英之・上村大樹・竹内 幹・福田寿一・熊代成孝・最上 徹（MIRAI-Selete） SDM2010-180 |
宇宙線中性子起因の二次イオンが発生させた電荷によって生じたエラー信号パルスが組み合わせ回路中を伝播する Single E... [more] | SDM2010-180 pp.47-52 |
| DC | 2010-06-25 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察 ○岡 伸也・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2010-9 |
無閉路可検査順序回路は実用的にテスト容易な順序回路である． その1つのクラスとして部分スルー可検査順序回路があり，順序... [more] |
DC2010-9 pp.7-11 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-09-08 11:20 |
東京 | 機械振興会館 | 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 ○樋上喜信（愛媛大）・Kewal K Saluja（Univ. of Wisconsin-madision）・高橋 寛・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
近年，論理回路のテストや故障診断におけるコスト削減が重要になってきている． テストや故障診断のコストは，印加されるテス... [more] |
CPM2005-89 ICD2005-99 pp.25-30 |
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